半導(dǎo)體老化篩選設(shè)備

不僅做動態(tài)老化，還具備DUT（受測器件：Device Under Test）的輸出信號監(jiān)視功能。用這個功能對DUT的動作進行監(jiān)視，防止篩選漏網(wǎng)，主要試驗對象為SDRAM，SRAM等內(nèi)存類，CPU，ASIC，系統(tǒng)LSI等邏輯裝置，也對應(yīng)各種MOS形的IC。

不僅做動態(tài)老化，還具備DUT（受測器件：Device Under Test）的輸出信號監(jiān)視功能。用這個功能對DUT的動作進行監(jiān)視，防止篩選漏網(wǎng)，主要試驗對象為SDRAM，SRAM等內(nèi)存類，CPU，ASIC，系統(tǒng)LSI等邏輯裝置，也對應(yīng)各種MOS形的IC。