德國HEIDENHAIN海德漢-光柵尺，編碼器，數(shù)控系統(tǒng)
銷售德國HEIDENHAIN海德漢-光柵尺，編碼器，數(shù)控系統(tǒng)
§ 從一開始，HEIDENHAIN就將其首要目標定為生產(chǎn)技術(shù)上始終領(lǐng)先的產(chǎn)品，這個目標也自始至終貫串于本公司的整個發(fā)展史中。Wilhelm Heidenhain先生，這個來自柏林的技術(shù)精湛的工程師，對精密機械產(chǎn)生了興趣 ，并成為瑞士一家最著名的科學儀器和精密刻度制造廠的一個熟練工程師。 
§ 1889年Wilhelm HEIDENHAIN先生在柏林建立了一個金屬刻蝕公司，并從制造裝飾模版開始，后來又制作商業(yè)牌匾，以及刻度盤表面和刻度尺的分度。由于在制造工藝上不斷創(chuàng)新，W.HEIDENHAIN先生的公司逐漸成為歐洲最大和最著名的金屬刻蝕公司。 
§ 1923年Wilhelm先生的兒子，Dr.JohannesHeidenhain博士，進入其父親的公司工作。他為了彌補自己化學知識的不足，在Lise Meitner 和 Otto Hahn所屬的一間直線刻度器工廠接受訓練。 
§ 1928年由于Dr.Johannes Heidenhain博士擁有無硫冶金復制工藝上的專利，所以他意識到能夠從傳統(tǒng)的刻度分劃中快速準確的產(chǎn)生直線刻度。這也使得一系列的利用光學機械原理加工的刻度劃分產(chǎn)品成為可能。 
§ 1936年這一年公司生產(chǎn)出一個直線準確度為±15mm的一米直線刻度尺，這在當時是一項令人震驚的成果。 
§ 1943年為Jena的Carl Zeiss 公司生產(chǎn)的±3弧秒的圓形刻度盤 。 柏林的工廠在二戰(zhàn)中被毀壞。 
§ 1948年Dr.Johannes Heidenhain重新開始了他的事業(yè)，他在Traunreut建立了一間僅有7個工人的DR.JOHANNES HEIDENHAIN公司。這個年輕的公司的目標之一就是尋找一種更好的制版工藝。 
§ 1950年HEIDENHAIN公司取得了DIADUR工藝的專利：在玻璃基板上覆蓋一層抗光材料，并用蒸氣沉淀工藝鍍上一層鉻金屬層。由于這項領(lǐng)先的成果的出現(xiàn)，他們能夠在一系列產(chǎn)品的復制加工過程中生產(chǎn)一極薄但很硬的能抵抗化學腐蝕的刻度。這是制造寬刻度尺的前提條件，這種寬刻度尺可能刻上成千上百的四位數(shù)，可以用在零售商店顯示價格，后來也用于在機床中的光學位置測量儀器。 
§ 1952年開始生產(chǎn)光學位置測量儀器一首先是橫向的讀出，然后又配以直接數(shù)字顯示，其刻度為最小可到0.001mm的直線刻度或1弧秒的角度分度。 
§ 1961開始開發(fā)光電掃描直線光柵尺和角度編碼器:在光電掃描過程中，刻度上的結(jié)構(gòu)和掃描中間掩模都是用來調(diào)整光束的強度，并將其轉(zhuǎn)換為電平信號。 
§ 1968一種雙向計數(shù)器和一種簡易的步距控制器的出現(xiàn)開始了HEIDENHIAN向"電子時代"的進軍。接下來他們又為兩軸或三軸的機床設(shè)計了數(shù)字顯示器，還有用來測量和檢驗用的HEIDENHAIN-METRO長度計。 
§ 1976HEIDENHAIN公司開始為機床制作數(shù)字控制器，最初的產(chǎn)品是直線切削控制器。 
§ 1981生產(chǎn)出用于銑床、鉆床、鏜床以及加工中心的輪廓控制器。 
§ 1987提出了一種新的干涉測量原理，利用此原理最小測量步距可達到1毫微米，同時允許較大的安裝公差。 
§ 1993即使是對于復雜的機械，也實現(xiàn)了其毫不動搖的承諾-對話式編程，從而使TNC控制器成為歐洲的工廠現(xiàn)場編程的標準。在用于直線和角度編碼器的掃描方法這個領(lǐng)域內(nèi)，公司不斷地發(fā)展也增大了公司產(chǎn)品的應用范圍。 
§ 1997出現(xiàn)了第一個完整的程序，能夠為直線、角度和旋轉(zhuǎn)編碼器提供了能通過快速連續(xù)的接口傳輸絕對位置信號的功能。 
§ 1999現(xiàn)在在這個領(lǐng)域內(nèi)大約有300萬臺旋轉(zhuǎn)和角度編碼器，250萬臺直線光柵尺，36萬臺數(shù)字顯示器和13萬臺TNC控制器。 
2001HEIDENHAIN公司在Traunreut的主要工廠就有超過2200名工人，另外還有450名職員在所有的重要工業(yè)國家和全世界的服務點提供技術(shù)支持。 
長度測量：
封閉式直線光柵尺敞開式直線光柵尺長度計

角度測量：
角度編碼器旋轉(zhuǎn)編碼器

刀具與工件設(shè)定和測量：
機床控制系統(tǒng)：
測量數(shù)據(jù)獲取與顯示：
3-D Touch Probes ：