產(chǎn)品關(guān)鍵詞：
ICT-33C+集成電路測試儀,
集成電路測試儀產(chǎn)品簡介
- 器件好壞判別：當不知被測器件的好壞時，儀器可判別其邏輯功能好壞。
- 器件型號識別：當不知被測器件的型號時，儀器可依據(jù)其邏輯功能來判斷其型號。
- 器件老化測試：當懷疑被測器件的穩(wěn)定性時，儀器可對其進行連續(xù)老化測試。
- 器件代換查詢：儀器可顯示有無邏輯功能一致，引腳排列一致的器件型號。
- 內(nèi)部RAM緩沖區(qū)修改：儀器可對內(nèi)部緩沖區(qū)進行多種編輯。
- 微機通訊：儀器可通過串行口接受來自微機的數(shù)據(jù)或?qū)?nèi)部RAM緩沖區(qū)的數(shù)據(jù)傳送到微機。
- ROM器件讀入：儀器可將128K以內(nèi)的ROM器件內(nèi)的數(shù)據(jù)讀入并保存。
- ROM器件寫入：儀器可將內(nèi)部緩沖區(qū)的數(shù)據(jù)寫入到128K以內(nèi)的ROM器件中。
集成電路測試儀適用范圍
- 維修各類電子產(chǎn)品，判斷其集成電路故障。
- 破譯被抹去型號集成電路的真實型號。
- 燒寫各類EPROM、EEPROM、FLASH ROM、單片機片內(nèi)ROM。
- 開發(fā)各類智能電子產(chǎn)品，調(diào)試程序。
- 檢驗新購器件的質(zhì)量。
集成電路測試儀可測器件種類
- TTL74、54系列。
- TTL75、55系列。
- CMOS40、45、14系列。
- 單片機系列。
- EPROM、EEPROM、RAM、FLASHＲＯＭ系列。
- 光耦合器，數(shù)碼管系列。
- 常用微機外圍電路系列。
- 其它常用電路及用戶提供系列。
- 運算放大器系列（單運放、雙運放、四運放）。
- 三端穩(wěn)壓器系列（78XX，79XX，317，337）。
北京金三航科技發(fā)展有限公司
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產(chǎn)品關(guān)鍵詞：
ICT-33C+集成電路測試儀,
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