集成電路測(cè)試儀產(chǎn)品簡(jiǎn)介

• 器件好壞判別：當(dāng)不知被測(cè)器件的好壞時(shí)，儀器可判別其邏輯功能好壞。
• 器件型號(hào)識(shí)別：當(dāng)不知被測(cè)器件的型號(hào)時(shí)，儀器可依據(jù)其邏輯功能來(lái)判斷其型號(hào)。
• 器件老化測(cè)試：當(dāng)懷疑被測(cè)器件的穩(wěn)定性時(shí)，儀器可對(duì)其進(jìn)行連續(xù)老化測(cè)試。
• 器件代換查詢：儀器可顯示有無(wú)邏輯功能一致，引腳排列一致的器件型號(hào)。
• 內(nèi)部RAM緩沖區(qū)修改：儀器可對(duì)內(nèi)部緩沖區(qū)進(jìn)行多種編輯。
• 微機(jī)通訊：儀器可通過(guò)串行口接受來(lái)自微機(jī)的數(shù)據(jù)或?qū)?nèi)部RAM緩沖區(qū)的數(shù)據(jù)傳送到微機(jī)。
• ROM器件讀入：儀器可將128K以內(nèi)的ROM器件內(nèi)的數(shù)據(jù)讀入并保存。
• ROM器件寫(xiě)入：儀器可將內(nèi)部緩沖區(qū)的數(shù)據(jù)寫(xiě)入到128K以內(nèi)的ROM器件中。

集成電路測(cè)試儀適用范圍

• 維修各類電子產(chǎn)品，判斷其集成電路故障。
• 破譯被抹去型號(hào)集成電路的真實(shí)型號(hào)。
• 燒寫(xiě)各類EPROM、EEPROM、FLASH ROM、單片機(jī)片內(nèi)ROM。
• 開(kāi)發(fā)各類智能電子產(chǎn)品，調(diào)試程序。
• 檢驗(yàn)新購(gòu)器件的質(zhì)量。

集成電路測(cè)試儀可測(cè)器件種類

• TTL74、54系列。
• TTL75、55系列。
• CMOS40、45、14系列。
• 單片機(jī)系列。
• EPROM、EEPROM、RAM、FLASHＲＯＭ系列。
• 光耦合器，數(shù)碼管系列。
• 常用微機(jī)外圍電路系列。
• 其它常用電路及用戶提供系列。
• 運(yùn)算放大器系列（單運(yùn)放、雙運(yùn)放、四運(yùn)放）。
• 三端穩(wěn)壓器系列（78XX，79XX，317，337）。

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