規(guī)格

VS5202D

VS5102D

VS5062D

VS5042D

帶寬

200 MHz

100 MHz

60 MHz

40 MHz

存儲(chǔ)深度

1M 采樣點(diǎn)（單通道）， 512K 采樣點(diǎn)（雙通道）， 512K 采樣點(diǎn)（邏輯分析儀）

通道

雙通道＋外觸發(fā)＋ 16 通道邏輯分析儀

實(shí)時(shí)采樣率

400 MSa/s ， 200 MSa/s （邏輯分析儀）

等效采樣率

50 GSa/s

上升時(shí)間

1.7 ns

3.5 ns

5.8 ns

8.7 ns

掃速范圍

2ns/div 至 50 s/div

2ns/div 至 50 s/div

5ns/div 至 50 s/div

10ns/div 至 50 s/div

門限類型（邏輯分析儀）

TTL = 1.4 V, CMOS = 2.5 V,ECL = - 1.3 V,USER = - 8.0 V 至 + 8.0 V

觸發(fā)模式

邊沿觸發(fā)、脈寬觸發(fā)、視頻觸發(fā)、斜率觸發(fā)、交替觸發(fā)、碼型觸發(fā)、持續(xù)時(shí)間觸發(fā)

觸發(fā)源

CH1 、 CH2 、 Ext 、 Ext/5 、 AC Line 、 D0-D15

配件

探頭 ×2 （ 1x ， 10x 切換），電源適配器，用戶手冊(cè)，數(shù)字探頭組件

相同參數(shù)

采樣

采樣方式

實(shí)時(shí)采樣＋等效采樣

平均值

所有通道同時(shí)達(dá)到 N 次采樣后， N 次數(shù)可在 2 、 4 、 8 、 16 、 32 、 64 、 128 和 256 之間選擇

輸入

輸入耦合

直流、交流或接地（ DC 、 AC 、 GND ）

輸入阻抗

1MΩ±2% ，與 15pF±3pF 并聯(lián)

探頭衰減系數(shù)設(shè)定

1X ， 10X ， 100X ， 1000X

最大輸入電壓

400V （ DC ＋ AC 峰值、 1MΩ 輸入阻抗）

40V （ DC ＋ AC 峰值）

通道間時(shí)間延遲（典型）

500ps

水平

采樣率范圍

1Sa/s-400MSa/s （實(shí)時(shí)）， 50GSa/s （等效）

波形內(nèi)插

Sin （ x ） /x

采樣率和延遲時(shí)間精確度

±100ppm （任何 ≥1ms 的時(shí)間間隔）

時(shí)間間隔（ △T ）測(cè)量精確度（滿帶寬）

單次： ± （ 1 采樣間隔時(shí)間 +100ppm× 讀數(shù) +0.6ns ） >16 個(gè)平均值： ± （ 1 采樣間隔時(shí)間 +100ppm× 讀數(shù) +0.4ns ）

垂直

模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器（ A/D ）

8 比特分辨率，兩個(gè)通道同時(shí)采樣

靈敏度（伏 / 格）范圍（ V/div ）

2mV/div-5V/div （在輸入 BNC 處）

位移范圍

±40V(200mV-5V) ， ±2V(2mV-100mV)

可選擇的模擬帶寬限制（典型）

20MHz

低頻響應(yīng)
（交流耦合， -3dB ）

≤5Hz （在 BNC 上）

直流增益精確度

2mV/div~5mV/div ， ±4% （采樣或平均值采樣方式） 10 mV/div~5V/div ， ±3% （采樣或平均值采樣方式）

直流測(cè)量精確度（平均值采樣方式）

垂直位移為零，且 N≥16 時(shí)

± （ 4%× 讀數(shù) +0.1 格 +1mV ）且選取 2mV/div 或 5mV/div 。 ± （ 3%× 讀數(shù) +0.1 格 +1mV ）且選取
10 mV/div~5V/div 。

垂直位移不為零，且 N≥16 時(shí)

±[3%× （讀數(shù) + 垂直位移讀數(shù)） + （ 1%× 垂直位移讀數(shù)） +0.2 格 ] 設(shè)定值從 2mV/div 到 200mV/div 加 2mV 。設(shè)定值從 >200 mV/div 到 5V/div 加 50 mV

電壓差（ △V ）測(cè)量精確度（平均值采樣方式）

在同樣的設(shè)置和環(huán)境條件下，經(jīng)對(duì)捕獲的 ≥16 個(gè)波形取平均值后波形上任兩點(diǎn)間的電壓差（ △V ）： ± （ 3 ％ × 讀數(shù) +0.05 格）