快速識(shí)別并分離出問題點(diǎn)

使用WaveScan定位數(shù)字或模擬波形中的不良波形、干擾或其它異常。

測(cè)量和分析

使用18種測(cè)量參數(shù)和23種數(shù)學(xué)函數(shù)來幫助理解您測(cè)量的波形的全部細(xì)節(jié)。

更快地發(fā)現(xiàn)問題

利用256級(jí)灰度在22,000次波形 / 秒的速度下觀察波形的變化。

簡(jiǎn)捷的觸摸系統(tǒng)

利用寬大的觸摸屏和直觀的用戶界面，對(duì)通道、觸發(fā)、數(shù)學(xué)運(yùn)算和測(cè)量的控制都變得極為簡(jiǎn)捷。

模擬，數(shù)字，串行

捕獲并查看最多4個(gè)模擬和18個(gè)數(shù)字的波形，對(duì)15個(gè)串行數(shù)據(jù)標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行解碼

保存，記錄，報(bào)告

只需輕觸一個(gè)按鍵即可保存所有的結(jié)果和數(shù)據(jù)，并且通過LabNotebook創(chuàng)建用戶報(bào)告

詳細(xì)持術(shù)指村請(qǐng)查閱：

http://www.atltest.com/html/11040409106783.htm