測厚儀標準片又名膜厚儀校準片,專業(yè)用于測厚儀（膜厚儀）在測金屬鍍層厚度的時候進行標準化校準.也就是我們在膜厚測試中常用的標準曲線法,是測量已知厚度或組成的標準樣品，根據(jù)熒光x-射線的能量和強度及相應鍍層厚度的對應關(guān)系，來得到標準曲線。之后以此標準曲線來測量未知樣品，以得到鍍層厚度或組成比率。對于pcb,五金電鍍,半導體等行業(yè)使用測厚儀來檢測品質(zhì)和控制成本起到了很重要的作用。測厚儀標準片一般分為單鍍層片，雙鍍層片,多鍍層片,合金鍍層片,化學鍍層片。如 單鍍層ag/xx, 雙鍍層au/ni/xx , 三鍍層au/pd/ni/xx, 合金鍍層sn-pb/xx, 化學鍍層ni-p/xx. 我們可以根據(jù)客戶不同的金屬元素,鍍層結(jié)構(gòu),鍍層厚度等要求向美國工廠定做標準片,并可出據(jù)標準片厚度值證書. 我公司是一精密測試儀器代理商，為香港儀高集團附屬成員. 我集團在中國和香港地區(qū)獨家代理韓國micro pioneer xrf-2000系列x-射線測厚儀及德國roentgenanalytik compact eco系列x-射線測厚儀。此兩種儀器主要用于鍍層或涂層厚度的測量，而且特別適合于對微細表面積或超薄鍍層的測量。