美國solar Metrology 太陽能薄膜電池CIS, CIGS, CIGSSe ａnd CdTe厚度測量儀
11. 可將實驗室建立的數(shù)據(jù)直接復制至線上檢測機臺上。
基本規(guī)格：
X射線發(fā)生部 | 電壓 | *50kV，多段電壓切換 |
電流 | 4-1000μA，可做自動調(diào)整設定 | |
準直器 | 共五個 | |
偵測器 | Pin or Si | |
檢測器 | 冷卻方式 | 電子冷卻 |
五種濾波器自動切換 | ||
電源 | AC110~240V, 50/60 Hz | |
應用領域：
| 鍍層厚度分析 |
（1）分析CIGS各鍍層的厚度及成份同時測量。 |
其他型號：
薄膜太陽能檢測設備：
應用於薄膜太陽能電池CIGS及CdTe與III及V族厚度及成份分析。
● 桌上型成份及厚度分析儀SMX-BEN:全球唯一能提供NIST標準樣品，快速（60秒內(nèi)）非破壞檢測。
● 生產(chǎn)製程專用模組 SMX-FPV: 適合於設備商turn-key使用，直接OEM與生產(chǎn)製程端整合。
● 即時監(jiān)測設備（In-Situ） SMX-ISI: 適用於roll to roll、真空與非真空製程腔體內(nèi)檢測，可耐高溫至 300°C。
● 產(chǎn)線自動檢測系統(tǒng)（In-Line） SMX-ILH:適用於各種製程產(chǎn)線上不同檢測點上，可依現(xiàn)場Layout 做不同方式進樣。
