CIT-3000SM 能量色散X熒光分析儀
應用領域: 適用于礦山、選礦廠、冶煉廠、水泥等企業(yè)在生產過程中對產品質量進行監(jiān)測
一、 CIT-3000SM 產品配置：
1 、采用進口的美國AMPTEK航天技術的SI（PIN）半導體探測器系列
2 、采用獨特專利數字脈沖采集電路及專利的電源管理技術
3 、采用進口X光管
4 、采用專用的X射線高壓發(fā)生器
5 、采用RS232串口通訊
6 、采用精密的系統控制電路和數字處理電路
7 、采用專有的分析算法軟件模塊V2.0A
8 、配備品牌電腦
9 、配備常用的制樣工具
10 、配備專用的壓片機
11 、配備專用的測試樣環(huán)
12 、配備專用的測試硬標樣
二、CIT-3000SM 技術指標：
1、分析元素范圍：Mg-U（主要是：Mg、Al、Si、P、S、Ca、Fe、Mn、Cu、Pb、Zn、Cr、Br、Cd）；
2、元素含量分析范圍：1ppm -99.99%（采用1024道多道分析器，分析精度更高）；
3、采用美國航天技術的Si (PIN)半導體探測器計數，配合專利的數字脈沖處理技術；
4、測量范圍：1－30KeV；
5、管壓：0kV-30kV（激發(fā)源為 30KV-鎢靶微型X射線管）；
6、管流：5μA-200μA；（可減少整機功耗和降低輻射）；
7、整機功率：50W；
8 、整機能量分辨率：150±5eV；
9、檢測時間： <200S；
10、工作環(huán)境溫度：溫度0-40℃；
11、工作環(huán)境相對濕度：≤99%（不結露）；
12、測量物質狀態(tài)：固體、粉末均可檢測，制樣簡單；
