歡迎來電咨詢詳細(xì)產(chǎn)品資料,,描述了幾個與前述所有模型不同的失效模型—電容耦合模型（CCM）。這種模型以電容耦合的帶電源到敏感器件節(jié)點(diǎn)的ＥＳＤ失效。這種模型的電路有幾種形式：（ａ）人體電容耦合模型，（ｂ）人體金屬電容耦合模型，（ｃ）帶電器件電容耦合模型（與場感應(yīng)電容耦合模型相同）。（ｄ）機(jī)器模型電容耦模型。這幾種ＣＣＭ的重要性是當(dāng)通過器件的通路不明顯時(shí)就能使器件失效的微妙方式。應(yīng)該注意的是CCM放電不是簡單地由于分布電容的存在而發(fā)生。只有當(dāng)通路包含敏感元件時(shí)，放電才發(fā)生。事實(shí)上，電容在直流時(shí)呈現(xiàn)出無限的阻抗而隨著頻率升高時(shí)阻抗減小。