CT-3381(128/256/512/1024)系列導(dǎo)通測(cè)試儀采用高速微處理器控制,及*現(xiàn)代化的軟硬件設(shè)計(jì)而成,主要特點(diǎn)有:

1)全部采用貼片式電子元器件,具有功耗低,體積小,重量輕,可靠性高；

2)存儲(chǔ)器采用NOR FLASH閃存記憶體,無(wú)壞塊保證了數(shù)據(jù)的*安全，且體積小,容量大(可存儲(chǔ)128組測(cè)試數(shù)據(jù))，不須使用備用電池,資料保存永不丟失；

3)采用320*240圖型液晶顯示器,具有顯示范圍大,信息多的優(yōu)點(diǎn)；

4)全中文操作介面,九個(gè)快捷功能鍵（測(cè)試、搜索、學(xué)習(xí)、通訊、文檔、模式、自檢、設(shè)置、記錄清除），可以方便快速的在各個(gè)功能之間切換；方便操作人員使用,信息一目了然；

5)可設(shè)置長(zhǎng)達(dá)20位的文件名，方便資料管理；

6)可設(shè)置密碼、機(jī)器編號(hào)，方便設(shè)備管理；

7)通過(guò)USB接口與PC通信,速度快、上傳或下載資料方便,交互性強(qiáng)；

8)PC端軟件功能強(qiáng)大，配合測(cè)試機(jī)使用可大大降低編程人員的工作量，完全避免資料編輯及資料傳輸過(guò)程中可能出現(xiàn)的風(fēng)險(xiǎn)；

9)功能強(qiáng),除具有一般導(dǎo)通測(cè)試儀之功能外,還具備下列特殊功能:

1. 多種測(cè)試模式

1.循環(huán)測(cè)試模式

正常測(cè)試方式,采用全程時(shí)時(shí)重復(fù)掃描方式.

2.累加測(cè)試模式

在治具試制階段或治具按觸不良的情況下,請(qǐng)選擇累加測(cè)試.這個(gè)功能可逐點(diǎn)逐組探測(cè),實(shí)時(shí)顯示丟失點(diǎn)數(shù)及坐標(biāo)，等待全部測(cè)試完成后PASS通過(guò).

3.觸點(diǎn)測(cè)試模式

在治具按觸不良的情況下，請(qǐng)選擇觸點(diǎn)測(cè)試；

    4．多路測(cè)試模式

可循序測(cè)試多路（單路分別采用循環(huán)測(cè)試模式）；

5．網(wǎng)絡(luò)測(cè)試模式

適用于網(wǎng)絡(luò)化管理,測(cè)試結(jié)果通過(guò)以太網(wǎng)傳輸?shù)胶笈_(tái)進(jìn)行分析和統(tǒng)計(jì)（采用循環(huán)測(cè)試模式）.

b.  異常點(diǎn)擴(kuò)展信息顯示功能

通過(guò)編輯可分別對(duì)被測(cè)點(diǎn)添加附加信息,例如此線所在的區(qū)域,線色和所屬的接插件名稱,這樣出現(xiàn)異常時(shí),可迅速找出異常位置.

*c.可升級(jí)全部導(dǎo)通測(cè)試機(jī)通過(guò)以太網(wǎng)聯(lián)接,由后臺(tái)服務(wù)器統(tǒng)計(jì)和管理生產(chǎn)任務(wù).