CT-2006(128/256/512/1024)系列導(dǎo)通測(cè)試儀采用高速微處理器控制,及*現(xiàn)代化的軟硬件設(shè)計(jì)而成,主要特點(diǎn)有:

1) 全部采用貼片式電子元器件,具有功耗低,體積小,重量輕,可可靠性高.

2) 采用無(wú)鉛環(huán)保元件和無(wú)鉛貼裝工藝, 具有環(huán)保節(jié)能.

3) 存儲(chǔ)器采用NAND閃存記憶體,體積小,容量大(可存儲(chǔ)100組測(cè)試數(shù)據(jù))可靠性高,不須使用備用電池,資料保存永不丟失.

4) 采用192*64圖型液晶顯示器,具有顯示范圍大,信息多.

5) 全中文操作介面,方便操作人員使用,信息一目了然.

6) 通過(guò)RS232接口與PC通信,可上傳或下載程序資料,交互性強(qiáng).

7) 功能強(qiáng),除具有一般導(dǎo)通測(cè)試儀之功能外,還具備下列特殊功能:

a. 多種測(cè)試方試

1. 循環(huán)測(cè)試

正常測(cè)試方式,采用全程時(shí)時(shí)重復(fù)掃描方式.

2. 單次測(cè)試

適用于網(wǎng)絡(luò)化管理,在對(duì)線束插上治具后,按[測(cè)試Test]進(jìn)行單次測(cè)試,測(cè)試結(jié)果通過(guò)以太網(wǎng)傳輸?shù)胶笈_(tái)進(jìn)行分析和統(tǒng)計(jì).

3. 搖擺測(cè)試(瞬間短斷路測(cè)試)

選定搖擺時(shí)間,進(jìn)行瞬間短斷路測(cè)試.在測(cè)試期間輕搖線束,有任何瞬間短斷路現(xiàn)象都可記錄在顯示屏當(dāng)中.

4. 接觸測(cè)試

(也稱累加測(cè)試)在治具按觸不良的情況下,請(qǐng)選擇接觸測(cè)試.這個(gè)功能是測(cè)試一組算完成一組,等待全部測(cè)試完成后PASS通過(guò).

  b.  正確顯示斷路,短路,和誤配線功能.

c.  異常點(diǎn)擴(kuò)展信息顯示功能

通過(guò)編輯可分別對(duì)被測(cè)點(diǎn)添加附加信息,例如此線所在的區(qū)域,顏色和所屬的接盒名稱,這樣出現(xiàn)異常時(shí),可迅速找出異常位置.

  *d. 可升級(jí)全部導(dǎo)通測(cè)試機(jī)通過(guò)以太網(wǎng)聯(lián)接,由后臺(tái)服務(wù)器統(tǒng)計(jì)和管理生產(chǎn)任務(wù).