X射線金屬測厚儀是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型X射線光譜儀.適合無損測量薄鍍層厚度及材料分析,同時(shí)還能全自動測量大規(guī)模生產(chǎn)的零部件及印刷線路板.其比例接收器能實(shí)現(xiàn)高計(jì)數(shù)率,這樣就可以進(jìn)行高精度測量.為了使每次測量都能在最優(yōu)的條件下進(jìn)行,儀器配備了可電動調(diào)整的多個(gè)準(zhǔn)值器及基本濾片.無論是鍍層系統(tǒng)還是固體和液體樣品,都能在沒有標(biāo)準(zhǔn)片的情況下進(jìn)行分析和測量.并且有著良好的長期穩(wěn)定性,不用經(jīng)常佼準(zhǔn)儀器,可節(jié)省時(shí)間。

X射線金屬測厚儀功能特征:
鍍層分析:可分析四層厚度,獨(dú)有的FP分析軟件,真正做到無厚度標(biāo)準(zhǔn)片亦能進(jìn)行準(zhǔn)確測量(需要配合純材料),為您大大節(jié)省購買標(biāo)準(zhǔn)片的成本.完全超越其他品牌的所謂FP軟件.
鍍液分析:可分析鍍液的主成份濃度(如鍍鎳藥水的鎳離子濃度,鍍銅藥水的銅離子濃度等),簡單的核對方式,無需購買標(biāo)準(zhǔn)藥液.
定性定量分析:可定性分析24多種金屬元素,并可定量分析成分含量.
光譜對比功能:可將樣品的光譜和標(biāo)準(zhǔn)件的光譜進(jìn)行對比,可確定樣品與標(biāo)準(zhǔn)件的差別,從而控制來料的純度.
統(tǒng)計(jì)功能:能夠?qū)y量結(jié)果進(jìn)行系統(tǒng)分析統(tǒng)計(jì),方便有效的控制品質(zhì).

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