產(chǎn)品關(guān)鍵詞:
XULM,膜厚測試儀,XULM膜厚儀,XULM膜厚測試儀,
XULM膜厚測試儀采用DMC測量法能對測量距離修正,可以自動(dòng)測量復(fù)雜的形狀,大的線路板也可輕易的放在測量頭及測量臺(tái)之間的槽進(jìn)行測量。菲希爾XULM膜厚測試儀配備微焦距XRAY管,四個(gè)電動(dòng)移動(dòng)準(zhǔn)值器,尺寸為圓形直徑0.1MM;0.2MM;及方形的0.05MM*0.05MM;0.03MM*0.2MM,還有三個(gè)基本濾片選用,使光譜圈更合適分析,基本操作軟件WINFTM V6 LIGHT,可以同時(shí)間測量多至層鍍層、或進(jìn)行多至5元素的合金分析、又或是最多測量兩個(gè)正離子的藥水濃度測量分析。采用最新數(shù)學(xué)FP法,采用激光自動(dòng)對焦,并配備有Z軸防沖撞傳感器,可防止在對焦時(shí)造成一起的損壞??蛇m用于各種樣品,從較厚的樣品(機(jī)械零部件)之大型線路板(PCB)及電子元器件等 ,測試方向由下向上照射的設(shè)計(jì)是只需要對準(zhǔn)量位置,而不需要調(diào)校焦距便可以進(jìn)行測量,并且由下向上的照射,極適合對一些較小的樣板進(jìn)行測量,尤其是對手表、端子、小螺絲、螺絲帽、一些電氣產(chǎn)品中的小五金零件等等,操作員只需將測試面朝下,不論大小的樣品可直接放進(jìn)測量室內(nèi),不用調(diào)距離,只需對準(zhǔn)位置,便可立即測量,這不單可以令測量更快速,還可以避免因在調(diào)校測量距離錯(cuò)誤時(shí)影響計(jì)算厚度。
XULM膜厚測試儀的綜合性能:鍍層分析 定性分析 定量分析 鍍液分析鍍層分析:可分析單層鍍層,雙層鍍層,三層鍍層, 合金鍍層. 鍍液分析:可分析鍍液的主成份濃度(如鍍鎳藥水的鎳離子濃度,鍍銅藥水的銅離子濃度等),簡單的核對方式,無需購買標(biāo)準(zhǔn)藥液. 定性定量分析:可定性分析20多種金屬元素,并可定量分析成分含量.
產(chǎn)品關(guān)鍵詞:
XULM,膜厚測試儀,XULM膜厚儀,XULM膜厚測試儀,