LED支架鍍層測厚儀采用了全新設(shè)計的發(fā)生器和DMC測量法光學(xué)編碼定位系統(tǒng)，高科技的FP法計算，能對樣品數(shù)據(jù)進(jìn)行快速、精準(zhǔn)的分析，基于當(dāng)前最先進(jìn)的電子技術(shù)全新設(shè)計的電路板，儀器小巧，結(jié)構(gòu)緊湊，靈敏度高，性價比最好。她完全突破了X射線熒光儀早期技術(shù)和相應(yīng)理論基礎(chǔ)上多年形成的傳統(tǒng)觀念，以全新理念實現(xiàn)了樣品分析自動化、操作簡單化、檢測分析智能化、數(shù)據(jù)結(jié)果最優(yōu)化、體積小型化、功能最大化的一次成功嘗試。

LED支架鍍層測厚儀采用的測量法特點有以下幾種：

1、不需要先對樣品進(jìn)行處理便能測量。樣品可以直接放入測量室進(jìn)行測量，不需特別處理樣品。
2、不需要復(fù)雜、昂貴的儀器來抽真空，便能在正常的環(huán)境下測量從元素Z＝13（鋁）至U＝92（鈾）
3、固體、漿狀及液體的樣本也可以測量。即使是極小不規(guī)則的測量面積也可快速，免接觸的測量。

主要應(yīng)用方面：
由于可測量的元素范圍從鋁至鈾，X射線的應(yīng)用范圍從工業(yè)應(yīng)用伸展到科學(xué)應(yīng)用。它可應(yīng)用于治金學(xué)、地質(zhì)學(xué)、鑒證學(xué)或自然科學(xué)等，在工業(yè)方面，廣泛用于五金電鍍、電子半導(dǎo)體、PCB線路、首飾珠寶、衛(wèi)浴、汽配的成份分析和鍍層測量方面。