K518G產(chǎn)品簡(jiǎn)介
K
BGA測(cè)試及貼片集成電路測(cè)試技術(shù)
電解電容極性及漏件測(cè)試
50mΩ超低阻量測(cè)(四線制)
Windows介面,操作簡(jiǎn)單,易上手
管理功能強(qiáng)大,提供7大報(bào)表,輕易做好源頭管理
強(qiáng)大的板視功能,使維修更方便
自動(dòng)放電功能,有效的保護(hù)開關(guān)卡
測(cè)試程式自動(dòng)生成功能,學(xué)習(xí)能力強(qiáng),大副減少測(cè)試程式制作時(shí)間及技術(shù)人力依賴
可從TRI,JET,OKANO,TESCON,振華,星河匯入測(cè)試程式,
并可匯出TRI與TXT格式的測(cè)試程式,解決綁機(jī)困擾,測(cè)試治具完全兼容
自動(dòng)蓋章功能,可選擇良品蓋章與不良品蓋章
掃條碼功能, 含多條碼,條碼識(shí)別及條碼重復(fù)檢測(cè)
測(cè)試結(jié)果存檔方式選擇功能,可分日期、次數(shù)、序號(hào)、良品、不良品等方式存檔
子板選測(cè): 跳過故障位打件的光板不測(cè)試.