本測(cè)量器可以用非常簡(jiǎn)單且高精度的方式,測(cè)量在常溫中的各種物體的放射率。是本公司自身的產(chǎn)品。

•          本測(cè)量器早已經(jīng)由宇宙開(kāi)発、原子力、半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)等的尖端技術(shù)分類(lèi)上所采用。從研究開(kāi)発應(yīng)用至生產(chǎn)線上的應(yīng)用等，可供活用的范圍非常廣泛。

•          選配記錄器，可將所測(cè)量值記錄并連接PC獲取數(shù)據(jù)及繪制曲線，分析放射曲線、最大、最小、平均值。

應(yīng)用：

●在機(jī)器的熱設(shè)計(jì)中必須使用的零件的放射率測(cè)量

•          ●藉由放射溫度計(jì)的測(cè)量物體來(lái)補(bǔ)正放射率

•          ●各種零件的加工／處理前后的放射率比較

•          ●其他、從零件的放射率求取物體本身的放射率等

•          ●材料科學(xué)院、實(shí)驗(yàn)領(lǐng)域必須的檢測(cè)分析設(shè)備

產(chǎn)品構(gòu)成：

•          １．紅外線照射源

•          藉由在一定溫度中加熱后的半球面黒體爐，在試料中集中照射。

•          ２．紅外線檢驗(yàn)素子

•          從試料反射出的能量的一部分，射進(jìn)半球面黒體爐的頂點(diǎn)的小孔，用一定比率做檢驗(yàn)。

•          注：比率是依據(jù)光學(xué)系的構(gòu)造來(lái)決定。

•          ３．放射率演算回路

•          從反射能量檢驗(yàn)器的輸出，演算試料的放射率。

•          注：試料的反射率和放射率的關(guān)系式如下：r εε＝１－r

•          ４．放射率表示値的校正

•          利用附屬的放射率基準(zhǔn)片（ε＝０．０６與０．９４）做校正

測(cè)量原理：利用恒溫放射的遠(yuǎn)紅外線放射源，將能量照射后計(jì)算所反射的能量。

測(cè)量波長(zhǎng)：2-22μｍ

測(cè)量范圍：0.00-1.00

額定精度：±0.01

測(cè)量面積：Φ15mm

測(cè)量距離：12mm（固定偵測(cè)頭的腳柱部）

被測(cè)物溫：10-40℃（室溫）

輸　　出：0-0.1V，0-1V（滿載）

使用溫度：10-45℃

使用濕度：35-85%RH（未結(jié)露、霜之狀態(tài)）

使用電源：AC100V ±10%，50/60Hz

外型尺寸：偵測(cè)頭Φ51X137mm（0.5Kg）     本　體H170X W306ｘD230mm（5Kg）

附屬裝置：放射率0.94、0.06基準(zhǔn)片各一片。

使用此產(chǎn)品的部分客商：北芝電機(jī)、象印魔法瓶、新力電器、夏普電機(jī)、新日本制鐵、三菱重工、豐田合成、旭硝子、住友金屬、東芝電機(jī)、柯尼卡、信越化學(xué)、島津制造所、住友特殊金屬等。

選配KEC-R2記錄器可實(shí)現(xiàn)更寬廣的功能：