深圳市欣諾特電子儀器有限公司
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變壓器測(cè)試系統(tǒng) ZENTECH 3250/3252/3302變壓器測(cè)試器，提供變壓器廠生產(chǎn)線或品管進(jìn)出貨檢驗(yàn)的高穩(wěn)定，高可靠度的精密量測(cè)儀器。技術(shù)上采用增強(qiáng)圈數(shù)比的能力，可解決低偶合系數(shù)、變壓器圈數(shù)比、圈數(shù)量測(cè)等問題，使量測(cè)等問題，使量測(cè)結(jié)果更加確實(shí)與精準(zhǔn)。 3302/3252除了提供您變壓器掃描的測(cè)試功能外，也提供LCR量測(cè)功能，不僅操作便利，也可降低生產(chǎn)設(shè)備成本。為提供客戶操作及使用的便利性，另設(shè)計(jì)種規(guī)格的測(cè)試治具，也接受客戶的特殊規(guī)格定做，讓您的測(cè)量過程，更加便利。主要特征： 1.測(cè)試頻率20HZ-200KHZ/1MHZ,精確度0.02% 2.基本量測(cè)準(zhǔn)確度:0.1% 3.3種阻抗輸出模式選擇,量測(cè)結(jié)果與各家知名廠牌的LCR表完全比對(duì) 4.增強(qiáng)式圈數(shù)比準(zhǔn)確量測(cè),適用于低磁導(dǎo)率的磁芯 5.高速LCR量測(cè),最快80次/秒 6.高速DCR測(cè)量,最快50次/秒 7.1320-20A偏壓電流源直流控制功能(僅適用于3252/3302) 8.大型LCD顯示(320*240點(diǎn)矩陣 ) 9.提供各式標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試治具及特殊治具訂制 10.四端測(cè)試治具,可得到DC樹比的精確且穩(wěn)定的測(cè)量 11.內(nèi)建測(cè)試治具,10級(jí)分類及計(jì)數(shù)功能(僅適用于3250/3302) 12.2M SRAM記憶卡供機(jī)臺(tái)資料設(shè)定及備份 13.標(biāo)準(zhǔn)RS--232\\HANDLER及PRINTER界面 14.50組內(nèi)部?jī)x器設(shè)定可供儲(chǔ)存及呼叫 Model 3250 3252/3302 MainFunctian transformer scanning tst transformer scanning test+LCR Meter Test Parameter Transformer Scanning turn ratio,phase,turn L,Q,Leakagel,balance,ACR,Cp,DCR,Pin short LCR Meter 0.0001μH-9999.9H L,C,R,IZI,DCR,Q,D,R,X, L,LK C 0.00001pF-999.999mF Q,D 0.00001-99999 Z,X,R 0.00001-99.9999 Y 0.01nS-99.9999S -90.00-+90.00 DCR 0.01-99.999 Turn 0.01-99999.99turns(Secondary voltage less than 100Vrms) Pin-short 11pairs,between pin to pin