氣壓試驗(yàn)又分為:高氣壓試驗(yàn),低氣壓試驗(yàn),高度試驗(yàn),溫度高度試驗(yàn)。
依據(jù)的標(biāo)準(zhǔn)有:
低氣壓試驗(yàn)常依據(jù)的標(biāo)準(zhǔn)有:
GB/T2423.21-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)M:低氣壓》
GB/T2424.24-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 溫度(低溫、高溫) 低氣壓 振動(dòng)(正弦)綜合試驗(yàn)導(dǎo)則
IEC68-2-41(1976)《基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程第二部分 試驗(yàn) 試驗(yàn)Z/BM高溫/低氣壓試驗(yàn)》
HB5830.14-96《機(jī)載設(shè)備環(huán)境條件與試驗(yàn)方法低氣壓(高度)》
JB3224-83)-使用于高海拔地區(qū)電工產(chǎn)品低氣壓試驗(yàn)方法
GB/T4857.13-1992 包裝 運(yùn)輸包裝件 低氣壓試驗(yàn)方法
GB12085.5-1989 光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)方法 綜合低溫與低氣壓
GGB/T10590-1989 低溫 低氣壓試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T5170.10-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 高低溫低氣壓試驗(yàn)設(shè)備
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