QFN28測(cè)試座，燒錄座產(chǎn)品特點(diǎn)：1，采用自動(dòng)機(jī)壓或手動(dòng)翻蓋式結(jié)構(gòu)，操作方便；
    2，探針一端接觸QFN芯片，一端接觸測(cè)試板的相對(duì)應(yīng)的焊盤(pán)，接觸穩(wěn)定。
   3，高精度的定位槽和導(dǎo)向孔，保證ic定位精確，測(cè)試精準(zhǔn)率高；
   4，探針可更換，維修方便，成本低；
   5，緣材料：torlon，PEI，PEEK,PPS，F(xiàn)R4,
   6，小可做到的測(cè)試間距PITCH=0.25MM；
   7，測(cè)試頻率可達(dá)9.3GHZ；
   8，用途：集成電路應(yīng)用功能驗(yàn)證測(cè)試；
   9，可根據(jù)用戶需求定做各種陣列的自動(dòng)/手動(dòng)測(cè)試座。
   定制各種BGA，QFN,DFN,FBGA,BGA,PBGA等封裝的測(cè)試座，根據(jù)客戶要求定做，一個(gè)起訂，使用壽命10萬(wàn)次