鉑電阻元件：日本林電工HAYASHI DENKO鉑電阻測溫元件
* 薄膜鉑熱電阻元件用陶瓷和鉑特制而成，因而在高溫下能夠保持優(yōu)良的穩(wěn)定性，適合在-50℃--400℃的溫度下使用。鉑薄膜通過激光噴濺在陶瓷表層，因而薄膜鉑熱電阻元件具有良好的防振動(dòng)和防沖擊性能。薄膜鉑熱電阻元件具有很好的持久穩(wěn)定性。在400℃對(duì)CRZ-1632連續(xù)加熱1000小時(shí)后，其在0℃的誤差在0.008Ω（0.02℃）內(nèi)。響應(yīng)時(shí)間短。CRZ-1632在空氣中響應(yīng)時(shí)間7秒，CRZ-2005為11秒，在水中為0.3秒

 薄膜鉑電阻系列
型號(hào) 外形尺寸
R 工作電流
mA 引線尺寸
W*H*Lmm 工作溫度
℃ 誤差
CRZ-1632-100-Ni 1.6*3.2*1.0 100Ω 1 0.25*0.15*12 -40～450 1/3DIN
A
B
2B
CRZ-2005-100-Ni 2.0*5.0*1.0   0.25*0.15*12 -40～450 
CRZ-2005-100-Pd    0.3*0.2*10 -50～500 
CRZ-2005-1000-Ni
CRZ-2005-500-Ni  500Ω
1000Ω 0.5 0.25*0.15*12 -40～450 
ST-1003-Pt 1.0*3.0*1.3 20Ω 1 0.25*0.15*12 -50～500 

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