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晶圓測(cè)試

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  • 產(chǎn)品規(guī)格:
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  • 商品名稱:晶圓測(cè)試
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  • 上架時(shí)間:2012/5/31 8:54
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產(chǎn)品關(guān)鍵詞: 晶圓測(cè)試,Wafer Prob,晶圓設(shè)計(jì)驗(yàn)證分析,
專業(yè)的集成電路晶圓測(cè)試廠家,配置多套集成電路測(cè)試系統(tǒng)和8寸全自動(dòng)探針臺(tái),專業(yè)的測(cè)試團(tuán)隊(duì)為您提供集成電路晶圓測(cè)試(Wafer Prob),設(shè)計(jì)驗(yàn)證分析,測(cè)試軟件開(kāi)發(fā)服務(wù)。本公司測(cè)試質(zhì)量管理宗旨貫徹在測(cè)試開(kāi)發(fā)設(shè)計(jì)、生產(chǎn)測(cè)試、檢驗(yàn)交貨等整體測(cè)試服務(wù)過(guò)程之中。確保向用戶提供高可靠性和滿意的服務(wù),得到眾多業(yè)內(nèi)人士及客人的認(rèn)同和肯定。
產(chǎn)品關(guān)鍵詞: 晶圓測(cè)試,Wafer Prob,晶圓設(shè)計(jì)驗(yàn)證分析,
晶圓測(cè)試
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