試驗(yàn)項(xiàng)目：  環(huán)境應(yīng)力篩選 （ESS）;  熱沖擊（溫度循環(huán)）測試; 斜率溫度變化試驗(yàn)
            高、低溫循環(huán)試驗(yàn);  溫濕度循環(huán)試驗(yàn);  高溫高濕試驗(yàn);  恒溫恒濕試驗(yàn)
            低溫低濕試驗(yàn);  結(jié)露試驗(yàn);  耐候試驗(yàn)（暴露）;  超低溫負(fù)載試驗(yàn) 
            冷熱沖撃試験（垂直+水平）

適用于電子、電器、通訊、儀表、車輛、塑膠制品、金屬、食品、化學(xué)、建材、醫(yī)療、航天等行業(yè)。太崎儀器提供的熱沖擊試驗(yàn)箱應(yīng)用：用于對(duì)儀器儀表、電工電子及其它產(chǎn)品、材料、零部件、軍用設(shè)備進(jìn)行高、低溫試驗(yàn)和快速溫度變化試驗(yàn)，以評(píng)價(jià)其在一定的溫度變化條件下貯存和使用的適應(yīng)性。
  
溫度沖擊試驗(yàn)箱
產(chǎn)品應(yīng)用：用于對(duì)儀器儀表、電工電子及其它產(chǎn)品、材料、零部件、軍用設(shè)備進(jìn)行溫度沖擊試驗(yàn)，以評(píng)價(jià)其在溫度沖擊條件下貯存和使用的適應(yīng)性。
方式 予冷溫 予熱溫度 高?低溫   常溫
溫度設(shè)定範(fàn)囲 時(shí)間設(shè)定範(fàn)囲 溫度變動(dòng)幅 
試料靜止形,冷溫風(fēng)切換方式，2 區(qū)?3 區(qū)可切換
試験溫度範(fàn)囲
低溫試験：-70～0℃， 高溫試験：60～200℃
低溫試験：-70～0℃， 高溫試験：60～200℃
-80℃～試験室溫度低溫設(shè)定値
試験室溫度高溫設(shè)定値～200℃
0～99 時(shí)間 59 分 0～99 時(shí)間 59 分 ±0.5℃

溫度上昇時(shí)間(高溫槽) 溫度下降時(shí)間(低溫槽)
溫度循環(huán)性能
測試區(qū)域 ＊２ ＊２ 
常溫～200℃ ：15 分以內(nèi) 常溫～－75℃：45 分以內(nèi)
循環(huán)次數(shù)：5 個(gè)循環(huán)（低溫始動(dòng)）
塑膠鑄型ＩＣ
33 kg（IC 24kg＋搭載治具 2 段 9kg）
低溫常溫高溫
試験室溫度 試験時(shí)間 溫度測定位置
－55℃ 30 分 空氣溫度 5 分 ＋150℃ 30 分

溫度復(fù)帰時(shí)間
試験室內(nèi)容量 720 mm × 920 mm × 460 mm
容許試料重量最大 50kg（底面 40kg 以下，試料棚 12kg／枚以下
試験室寸法（寬×深×高）720 mm × 920 mm × 460 mm
  5 分以內(nèi) 300 L ）
試料靜止形,冷溫風(fēng)切換方式，2 區(qū)?3 區(qū)可切換
低溫試験：-70～0℃， 高溫試験：80～200℃
低溫試験：-70～0℃， 高溫試験：80～200℃
-82℃～試験室溫度低溫設(shè)定値 試験室溫度高溫設(shè)定値～200℃
0～99 時(shí)間 59 分 0～99 時(shí)間 59 分 ±0.5℃
低溫試験：-70～0℃， 高溫試験：60～200℃
低溫試験：-70～0℃， 高溫試験：60～200℃
-80℃～試験室溫度低溫設(shè)定値 試験室溫度高溫設(shè)定値～200℃
0～99 時(shí)間 59 分 0～99 時(shí)間 59 分 ±0.5℃

溫度上昇時(shí)間(高溫槽) 溫度下降時(shí)間(低溫槽)
溫度循環(huán)性能＊２
測試區(qū)域  常溫～200℃ ：25 分以內(nèi) 常溫～－75℃：70 分以內(nèi)
連續(xù)運(yùn)轉(zhuǎn)循環(huán)次數(shù)：1000 個(gè)循環(huán)（低溫始動(dòng)）
塑膠鑄型ＩＣ 10 kg（IC 5.5 kg＋搭載治具 1 段 4.5kg）
溫度復(fù)帰時(shí)間5 分以內(nèi)
試験室內(nèi)容量 200 L
試験時(shí)間－40℃ 30 分 ＋125℃ 30 分
試験室寸法（寬×深×高） 630 mm × 690 mm × 460 mm 
最大 50kg（底面 40kg 以下，試料棚 11kg／枚以下）