設(shè)備簡介
目前市場上的光學(xué)影像檢測系統(tǒng)大多采用面掃描(Area-scan)的工業(yè)數(shù)字相機(jī)采集圖像及相關(guān)處理,但伴隨著產(chǎn)品尺寸的不斷加大(例如:PCB電路板、LCD面板、晶圓等),在不斷提高產(chǎn)能及精度的要求下,面掃描檢測設(shè)備的分辨率和取像速度已經(jīng)無法滿足實際生產(chǎn)要求,在光學(xué)檢測行業(yè)中經(jīng)維視圖像長期行業(yè)積累LSVD700線掃描視覺檢測機(jī),主要針對大幅面的外形和外觀檢測等,同時維視圖像致力于提供高效的產(chǎn)品質(zhì)量控制系統(tǒng),為客戶贏得更多市場機(jī)會。
本機(jī)采用高性能進(jìn)口圖像處理軟件,該軟件具有強(qiáng)大的缺陷識別功能、測量功能、定位功能、色差檢測、OCR&OCV識別檢測,主要針對檢測大幅面產(chǎn)品的外觀缺陷和外形尺寸,對于OK和NG產(chǎn)品實施統(tǒng)計分析。同時在軟件上設(shè)計了光源控制系統(tǒng),創(chuàng)造了一個最優(yōu)的光照系統(tǒng)及相對封閉的工作環(huán)境,有效的解決了環(huán)境對檢測精度的影響,同時滿足了待檢產(chǎn)品對光照條件的要求。運用強(qiáng)大的檢測及分析軟件工具對被測產(chǎn)品進(jìn)行定位、測量、分析。
設(shè)備特點
1、檢測速度可調(diào):可根據(jù)實際的需要調(diào)整送料速度和CCD掃描速度,從而改變設(shè)備檢測周期;
2、軟件操作方便易懂:"一鍵"操作,軟件界面支持中英文切換,同時可以針對檢測精度設(shè)置設(shè)置好不同參數(shù)保存在電腦中。下次檢測同一產(chǎn)品時可以完成"一鍵"操作;
3、因為檢測系統(tǒng)與外界采用光學(xué)隔離,所以產(chǎn)品檢測時不會受到外界光線干擾從而保證了檢測精度極高的一致性;
4、光學(xué)系統(tǒng)由軟件控制,可根據(jù)不同產(chǎn)品調(diào)配線光源顏色(R/W/B),可以針對不同產(chǎn)品在軟件中調(diào)節(jié)顏色的亮度比例,以達(dá)到最好的取圖效果;
5、圖像處理功能:采用了先進(jìn)的圖像處理算法,基于輪廓定位和模板匹配相結(jié)合的識別技術(shù),從而保證即使在惡劣光照條件下都能夠識別產(chǎn)品表面缺陷;
6、質(zhì)量控制方面:整套設(shè)備設(shè)有OK和NG數(shù)據(jù)自動保存功能,方便客戶查詢追溯檢測結(jié)果,以及解決投訴糾紛問題等;
7、生產(chǎn)統(tǒng)計:在產(chǎn)能數(shù)據(jù)管理方面可以導(dǎo)出Excel文件,方便進(jìn)行統(tǒng)計分析,同時也支持柱狀圖輸出。
檢測原理圖
典型應(yīng)用
規(guī)格參數(shù)
型號 | LSVD700-B | LSVD700-P | 備注 | |
特點 | 普通型 | 高精度型 | ||
自由度 | 3軸 | 3軸 | ||
動作范圍 | J1 | 650mm | 650mm | |
J2 | 600mm | 600mm | ||
J3 | 150mm | 150mm | ||
焦距 | 手動對焦 | 自動對焦 | 軟件控制 | |
最大檢測尺寸 | 400×400mm | 400×400mm | ||
檢測方式 | 分割檢測 | 分割檢測 | ||
檢測內(nèi)容 | OCR&OCV、尺寸測量、劃傷、裂紋、污垢 | OCR&OCV、尺寸測量、劃傷、裂紋、污垢 | ||
相機(jī)分辨率 | 2048×1 Mono CMOS | 6144×1 Mono CMOS | ||
像元尺寸 | 14um×14um | 7um×7um | ||
視場范圍 | ≥21mm | ≥21mm | ||
檢測精度 | ≤0.01mm | ≤0.004mm | ||
檢測速度 | ≥4s/件 | ≥4s/件 | ||
光源類型 | 線性光源(R/W/B) | 線性光源(R/W/B) | 顏色可選 | |
圖像處理器 | 酷睿雙核2.8 2G內(nèi)存 | 酷睿雙核2.8 2G內(nèi)存 | ||
上下料方式 | 手動 | 手動 | ||
外形尺寸 | 1200×900×1310mm | 1200×900×1310mm | ||
工作環(huán)境溫度/濕度 | 0~45℃/20~80%RH | |||
功率 | AC100~230V(單相),50/60Hz 500W |