元件的內(nèi)阻變化特性

應(yīng)用中元件的內(nèi)阻變化特性： 碳化硅電熱元件在常年采用中，其表層碳化硅要化合構(gòu)成一層二化合硅而致使元件阻值變大，稱(chēng)之為老化，Sic+2O2->SiO2+CO2，元件阻值在必定前提下采用中增長(zhǎng)得緩急反應(yīng)了元件內(nèi)在質(zhì)量?jī)?yōu)劣，普通地把元件阻值由Ro 變化增長(zhǎng)到3Ro 所用的時(shí)日稱(chēng)之為創(chuàng)見(jiàn)的采用爐齡。

應(yīng)用中影響元件采用爐齡的條件： 硅碳棒電熱元件的采用爐齡除非創(chuàng)見(jiàn)的內(nèi)在質(zhì)量的差異已影響外，還受元件的采用氣溫，元件發(fā)燒部表層載荷，環(huán)境氛圍，有害物體，供電方式(間斷和接連采用)以及元件在采用流程中的串并聯(lián)方式等條件的影響，在各氣溫下元件的采用載荷. 硅碳棒電熱元件在采用中抗酸性侵蝕，不過(guò)在堿性氛圍及其它環(huán)境中使構(gòu)成的二化合硅保護(hù)膜受到敗壞，采用爐齡會(huì)受到不一樣程度的影響。元件在各樣氛圍中批準(zhǔn)采用的最高氣溫及表層載荷。