TP200系統(tǒng)組件包括：
? TP200或TP200B測頭體（TP200B為變體，振動公差更大）
? TP200測針模塊 — 選擇固定超程測力：SF（標準測力）或LF（低測力）
? PI 200測頭接口
? SCR200測針交換架
還有一種EO模塊（長超程），超程力與SF相同，但工作范圍更大，并在測頭Z軸提供保護。
其特點及優(yōu)點如下：
? 應變片技術(shù)具有無可比擬的重復性和精確的3D輪廓測量。
? 零復位誤差。
? 無各向同性影響。
? 6向測量能力
? 測針測量距離達100 mm（GF測針）
? 快速測頭模塊交換，無需重新標定測尖
? 壽命 >1000萬次觸發(fā)
| ? | TP200 | TP200B |
主要應用 | 需要高精度的DCC CMM。 | 和TP200相同，但是會發(fā)生「空氣」觸發(fā)的場合。 |
觸發(fā)方向 | 6軸：±X、±Y、±Z | 6軸：±X、±Y、±Z |
單向重複性（2s μm） | 觸發(fā)水平1：0.40 μm（0.000016英吋） 觸發(fā)水平2：0.50 μm（0.00002英吋） | 觸發(fā)水平1：0.40 μm（0.000016英吋） 觸發(fā)水平2：0.50 μm（0.00002英吋） |
XY（2D）形式量測偏差 | 觸發(fā)水平1：±0.80 μm（0.000032英吋） | 觸發(fā)水平1：±1 μm（0.00004英吋） |
XYZ（3D）形式量測偏差 | 觸發(fā)水平1：±1 μm（0.00004英吋） | 觸發(fā)水平1：±2.50 μm（0.0001英吋） |
探針更換重複性 | 帶SCR200：最大±0.50 μm（0.00002英吋） | 帶SCR200：最大±0.50 μm（0.00002英吋） |
觸發(fā)力（探針端部處） | XY平面（所有模組）：0.02 N | XY平面（所有模組）：0.02 N |
超行程觸發(fā)力（0.50 mm位移時） | XY平面（SF/EO模組）：0.2 N到0.4 N | XY平面（SF/EO模組）：0.2 N到0.4 N |
重量（測頭感測器和模組） | 22 g（0.78盎司） | 22 g（0.78盎司） |
最大延長桿（如果在PH10系列測頭座上） | 300mm（11.81英吋） | 300mm（11.81英吋） |
最大建議探針長度（M2探針系列） | SF/EO模組：50 mm（1.97英吋）鋼到100 mm（3.94英吋）GF LF模組：20 mm（0.79英吋）鋼到50 mm（1.97英吋）GF | SF/EO模組：50 mm（1.97英吋）鋼到100 mm（3.94英吋）GF LF模組：20 mm（0.79英吋）鋼到50 mm（1.97英吋）GF |
安裝方式 | M8螺紋 | M8螺紋 |
適合的介面 | PI200、UCC | PI200、UCC |
探針模組更換架 | 自動：SCR200 | 自動：SCR200 |
探針系列 | M2 | M2 |
