信測(cè)環(huán)境可靠性實(shí)驗(yàn)室擁有1000多平方米實(shí)驗(yàn)場(chǎng)地，可以進(jìn)行機(jī)械、氣候類環(huán)境測(cè)試、包裝運(yùn)輸環(huán)境及可靠性咨詢服務(wù)，實(shí)驗(yàn)室依據(jù)IEC、GB、ETSI，ISTA，ASTM，MIL-STD等檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)?？煽啃詫?shí)驗(yàn)室擁有全面的高端可靠性測(cè)試設(shè)備（美國(guó)QUALMARK， 德國(guó)WEISS， 英國(guó)LDS）和經(jīng)驗(yàn)豐富的測(cè)試分析團(tuán)隊(duì)，不僅能給您提供及時(shí)滿意的可靠性測(cè)試服務(wù)，還能給您產(chǎn)品的可靠性增長(zhǎng)、篩先、壽命評(píng)估方面提供專業(yè)的解決方案

可靠性測(cè)試目的

研發(fā)階段：對(duì)試樣進(jìn)行可靠性測(cè)試，找出產(chǎn)品在原材料，結(jié)構(gòu)，工藝，環(huán)境適應(yīng)性等方面所存在的問題，而加以改進(jìn)，經(jīng)過反復(fù)試驗(yàn)與改進(jìn)就能提高產(chǎn)品的可靠性指標(biāo)。

中試階段：當(dāng)新產(chǎn)品定型后，根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)條件進(jìn)行鑒定試驗(yàn)，以便全面考核產(chǎn)品是否達(dá)到規(guī)定的可靠性指標(biāo)。

生產(chǎn)過程中：監(jiān)控產(chǎn)品質(zhì)量的穩(wěn)定程度（監(jiān)控原材料質(zhì)量變差或性能下降和工藝流程失控）。

目的總結(jié)

通過試驗(yàn)發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品潛在失效模式 (Failure Mode)

探求失效機(jī)理 (Failure Mechanism)

優(yōu)化研發(fā)設(shè)計(jì)，工藝流程 (Optimize design and process)

監(jiān)控原材料，工藝流程的改變 (Monitor raw material and process)

序號(hào)名稱檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)（方法）名稱及編號(hào)（含年號(hào)）

1低溫試驗(yàn)GB/T2423.1-2008                            電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A:低溫

IEC 60068-2-1-2007電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法

2高溫試驗(yàn)GB/T2423.2-2008                            電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B:高溫

IEC 60068-2-2-2007電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法

3恒定濕熱試驗(yàn)GB/T2423.3-2006                                                 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cab：恒定濕熱試驗(yàn)

IEC 60068-2-78-2001電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Cab:恒定濕熱試驗(yàn)方法

4交變濕熱試驗(yàn)GB/T 2423.4-2008                                                           電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Db:交變濕熱試驗(yàn)方法

IEC 60068-2-30-2005電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Db:交變濕熱(12+12小時(shí)循環(huán))

5溫度/濕度循環(huán)試驗(yàn)GB/2423.34-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z/AD：溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn)

IEC 60068-2-38-2009電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z/AD：溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn)

6正弦振動(dòng)GB/T2423.10-2008                            電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fc: 振動(dòng)(正弦)

IEC 60068-2-6-2007電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fc: 振動(dòng)(正弦)

7隨機(jī)振動(dòng)GB/T 2423.56-2006                                            電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fh：寬帶隨機(jī)振動(dòng)（數(shù)字控制）和導(dǎo)則

IEC 60068-2-64-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fh：寬帶隨機(jī)振動(dòng)和導(dǎo)則

8自由跌落

IEC 60068-2-31-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn).第2-31部分:試驗(yàn).試驗(yàn)Ec:跌落和傾倒.主要用于整機(jī)試驗(yàn)

9鹽霧試驗(yàn)GB/T2423.17-2008                                                                        電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ka：鹽霧

IEC 60068-2-11-1981電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Ka:鹽霧試驗(yàn)方法  

GB/T10125-199人造氣氛腐蝕試驗(yàn) 鹽霧試驗(yàn)7  

ISO 9227-2006人造氣氛腐蝕試驗(yàn) 鹽霧試驗(yàn)

10沖擊GB/T 2423.5-1995                                                           電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)和導(dǎo)則: 沖擊

IEC 60068-2-27-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ea和導(dǎo)則: 沖擊

11溫度變化GB/T2423.22-2002                                                            電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)N：溫度變化試驗(yàn)方法

IEC 60068-2-14-2009電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N:溫度變化

12防水GB 4208-2008                                                外殼防護(hù)等級(jí)（IP代碼）

IEC 60529-2001外殼防護(hù)等級(jí)（IP代碼）

13防塵GB 4208-2008                                                外殼防護(hù)等級(jí)（IP代碼）

IEC 60529-2001外殼防護(hù)等級(jí)（IP代碼）