產(chǎn)品關(guān)鍵詞：
恒科達(dá)HGD4008,
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>>高低溫交變?cè)囼?yàn)箱
高低溫交變?cè)囼?yàn)箱概述：
高低溫試驗(yàn)箱適用于電子電工產(chǎn)品、儀器儀表、原材料、電子元件等高低溫適應(yīng)性試驗(yàn)、低溫恒溫及儲(chǔ)存；<br>高低溫試驗(yàn)箱特別適用于光纖、晶體、精密電感、PCB、LCD等產(chǎn)品的高低溫適應(yīng)性試驗(yàn)。高低溫交變?cè)囼?yàn)箱詳情
特點(diǎn)：
- 高低溫試驗(yàn)箱采用進(jìn)口可編程溫度控制器,專家PID算法,LCD顯示設(shè)定和測(cè)量溫度，溫度控制穩(wěn)定可靠,操作簡(jiǎn)單,程式編輯容易；
- 高低溫箱獨(dú)特的送風(fēng)循環(huán)系統(tǒng)，避免了氣流在箱內(nèi)流通死角，提高了產(chǎn)品溫度均勻度;
- 全封閉進(jìn)口壓縮機(jī)+環(huán)保冷媒+機(jī)械式單級(jí)/復(fù)迭低溫回路系統(tǒng),制冷效果好,可靠性高;
- 完善的安全保護(hù)裝置,確保產(chǎn)品的運(yùn)行更加安全可靠;
- 高低溫試驗(yàn)箱多樣的溫度控制器可供用戶選擇。
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| 執(zhí)行與滿足標(biāo)準(zhǔn)
1. GB/T10589-1989 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
2. GB/T11158-1989 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
3. GB/T10592-1989 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
4. GB/T2423.1-2001 IEC60068-2-1試驗(yàn)A規(guī)程: 低溫試驗(yàn)方法
5. GB/T2423.2-1989 IEC60068-2-2試驗(yàn)B規(guī)程: 高溫試驗(yàn)方法
6. GB/T2423.22-1987試驗(yàn)Nb溫度變化試驗(yàn)方法
7. GJB150.3-1986高溫試驗(yàn)
8. GJB150.4-1986低溫試驗(yàn)
9. IEC68-2-14 試驗(yàn)N
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用途
- 高低溫試驗(yàn)箱適用于電子電工產(chǎn)品、儀器儀表、原材料、電子元件等高低溫適應(yīng)性試驗(yàn)、低溫恒溫及儲(chǔ)存；
- 高低溫試驗(yàn)箱特別適用于光纖、晶體、精密電感、PCB、LCD等產(chǎn)品的高低溫適應(yīng)性試驗(yàn)。
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型 號(hào)
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WGD4008/7008
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WGD4015/7015
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WGD4022/7022
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WGD4040/7040
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WGD4080/7080
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WGD4100/7100
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內(nèi)容積
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80L
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150L
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225L
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400L
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800L
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1000L
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內(nèi)部尺寸(cm)
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40×40×50
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50×50×60
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60×50×75
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80×60×85
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80×100×100
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100×100×100
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外部尺寸(cm)
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85×100×143
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95×100×153
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105×100×168
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125×100×178
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125×150×193
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164×143×186
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性
能
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系統(tǒng)
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平衡調(diào)溫調(diào)濕控制系統(tǒng) (BTHC) |
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強(qiáng)制空氣循環(huán)
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產(chǎn)品關(guān)鍵詞：
恒科達(dá)HGD4008,
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