1、電路板故障檢測(cè)儀數(shù)字IC在線/離線功能測(cè)試

⑴[在線測(cè)試]
    用測(cè)試夾卡住被測(cè)數(shù)字IC，GR系列測(cè)試儀依照被測(cè)IC在電路板上的實(shí)際自身連接關(guān)系自動(dòng)生成并施加測(cè)試代碼，再取回其實(shí)際響應(yīng)。將實(shí)際響應(yīng)和理論值進(jìn)行對(duì)比，即可發(fā)現(xiàn)功能失效的故障器件。直觀顯示IC自身連接和功能好壞等測(cè)試信息以及每一輸出管腳對(duì)應(yīng)的測(cè)試代碼、實(shí)際響應(yīng)和理論代碼，便于迅速縮小電路板故障范圍。
⑵[測(cè)試范圍]
    TTL74/54、CMOS40/45、存儲(chǔ)器、全系列驅(qū)動(dòng)器、29000、8000/80000、9000/90000、3400/34000、HD2500、AMD2500、西門(mén)子庫(kù)、俄羅斯、淘汰器件替代庫(kù)等十個(gè)系列數(shù)字IC。
⑶[離線測(cè)試]
    借助離線測(cè)試盒對(duì)離線狀態(tài)下數(shù)字IC進(jìn)行功能測(cè)試，沒(méi)有在線因素的影響。
⑷[型號(hào)識(shí)別]
    在線、離線識(shí)別標(biāo)識(shí)不清或被人為擦掉標(biāo)識(shí)的數(shù)字IC的功能型號(hào)及替代品。
⑸[測(cè)試電源]
    獨(dú)立程控施加組測(cè)試+5V電源，采用同步光電控制方式，對(duì)電源和地管腳短路、電網(wǎng)瞬間掉電等情況可準(zhǔn)確監(jiān)測(cè)并自動(dòng)保護(hù)。
⑹[輔助功能]
    ①動(dòng)態(tài)總線隔離：多個(gè)三態(tài)IC的輸出并聯(lián)在一起即構(gòu)成總線結(jié)構(gòu)。為避免因總線競(jìng)爭(zhēng)對(duì)所測(cè)IC的影響，可在其它IC的使能端施加高或低動(dòng)態(tài)同步禁止信號(hào)，屏蔽干擾。
    ②施加上拉電阻：自動(dòng)辨別未接上拉電阻或等效上拉電阻的集電極開(kāi)路數(shù)字IC，并自動(dòng)模擬1KΩ的上拉電阻對(duì)其完成測(cè)試。
    ③其它輔助功能：如“測(cè)試夾自動(dòng)定位”以及“測(cè)試夾接觸檢查”等。

2、電路板故障檢測(cè)儀雙板數(shù)字IC在線功能測(cè)試（GR8080以上儀器具備此功能）

⑴[測(cè)試過(guò)程]
    在同一瞬間、同一狀態(tài)下，用測(cè)試夾1和測(cè)試夾2對(duì)兩塊電路板上位置相同的數(shù)字IC進(jìn)行在線功能測(cè)試，不設(shè)理論代碼，直接對(duì)比兩個(gè)實(shí)際響應(yīng)，增加了對(duì)隱含故障的檢出率。
⑵[應(yīng)用方法]用于：
    ①好、壞電路板同時(shí)測(cè)試，不用事先學(xué)習(xí)，快速直接對(duì)比；
    ②多塊壞電路板同時(shí)測(cè)試，快速對(duì)照，多數(shù)判決；
    ③對(duì)一塊電路板上具有對(duì)稱布局排列的數(shù)字IC同時(shí)快速功能測(cè)試。
    實(shí)踐表明：這種測(cè)試方式極大地提高了測(cè)試效率。
⑶[測(cè)試要求]
    數(shù)字通道應(yīng)不少于80路，測(cè)控技術(shù)先進(jìn)，才能完成雙板數(shù)字IC在線功能測(cè)試。

3、數(shù)字IC在線狀態(tài)測(cè)試

    事先學(xué)習(xí)好電路板上數(shù)字IC的狀態(tài)信息，如：①管腳邏輯狀態(tài)（電源、地、信號(hào)狀態(tài)、小電阻接地或電源等）；②管腳之間的連接關(guān)系；③輸入、輸出實(shí)際響應(yīng)等。再比較故障電路板上同樣位置的器件，從而發(fā)現(xiàn)功能、管腳狀態(tài)與好板不一致的器件。
    測(cè)試過(guò)程中必須阻斷電路板上的干擾源，如拆下晶振、CPU等器件，適用于批量維修或有好電路板可供學(xué)習(xí)的情況。

4、電路板故障檢測(cè)儀VI曲線分析測(cè)試

    在線路結(jié)點(diǎn)之間注入一定幅度和頻率的周期信號(hào)，在顯示坐標(biāo)上形成一條電流隨電壓變化的關(guān)系曲線，即：VI曲線。VI曲線的形狀由被測(cè)結(jié)點(diǎn)之間的特性阻抗所決定，通過(guò)比較好、壞電路板（器件）上相同結(jié)點(diǎn)之間的VI曲線，可發(fā)現(xiàn)特性阻抗發(fā)生改變的結(jié)點(diǎn)，其通常為器件故障所引發(fā)。
    VI曲線分析測(cè)試幾乎適用于任何類(lèi)型的器件。可采用各種規(guī)格的測(cè)試夾多點(diǎn)測(cè)試或VI探棒單點(diǎn)測(cè)試，不受器件封裝形式的限制，應(yīng)用范圍極廣。相對(duì)于傳統(tǒng)工具，VI曲線分析測(cè)試在測(cè)試效率、精確度和信息量等方面都有巨大的優(yōu)勢(shì)。
    在線測(cè)試時(shí)，通常需要好、壞電路板對(duì)比測(cè)試，故障定位在線路結(jié)點(diǎn)上。然后應(yīng)以故障結(jié)點(diǎn)為中心，排查同該結(jié)點(diǎn)有關(guān)聯(lián)的器件；離線測(cè)試時(shí)，通常需要好、壞器件對(duì)比測(cè)試，故障直接定位在器件管腳上。有時(shí)也可運(yùn)用VI曲線對(duì)單塊電路板或單個(gè)器件進(jìn)行測(cè)試，在線時(shí)，直接對(duì)比電路板上對(duì)稱布局排列的器件；離線時(shí)，根據(jù)經(jīng)驗(yàn)觀察并總結(jié)器件管腳之間VI曲線形狀的規(guī)律性。

⑴[測(cè)試方法]
    選定測(cè)試參考點(diǎn)，提取測(cè)試點(diǎn)相對(duì)于該參考點(diǎn)的VI曲線。可采用測(cè)試夾同時(shí)測(cè)試或探棒逐點(diǎn)測(cè)試。例如，對(duì)20管腳的IC可用測(cè)試夾提取20條VI曲線，也可采用VI探棒逐點(diǎn)測(cè)試任意封裝的元器件。
⑵[雙棒巡檢]
    動(dòng)態(tài)顯示探棒提取的VI曲線，時(shí)時(shí)自動(dòng)刷新?？芍苯语@示任意結(jié)點(diǎn)之間的VI曲線或者直接比較兩板上相同結(jié)點(diǎn)之間的VI曲線，支持單/雙周期VI曲線設(shè)置。
⑶[雙夾測(cè)試] （GR8080以上儀器具備此功能）
    用測(cè)試夾直接比較兩塊電路板上同樣位置IC的VI曲線，測(cè)試效率大為提高。
⑷[結(jié)點(diǎn)類(lèi)型設(shè)置]
    選擇被測(cè)器件“結(jié)點(diǎn)類(lèi)型”后，自動(dòng)最佳匹配測(cè)試頻率等參數(shù)，使測(cè)試更加有的放矢并更加簡(jiǎn)便，明顯提高測(cè)試范圍和測(cè)試準(zhǔn)確性。
⑸[掃描分辨率]
    最高擋VI曲線掃描分辨率為512點(diǎn)/周期，多擋可選，故障識(shí)別率高。
⑹[掃描電壓]
    VI曲線的掃描電壓幅度在-28V～+28V之間有多擋可選，正弦波/三角波等可選。
⑺[曲線刷新]
    直接刷新VI曲線窗口，比較結(jié)果量化顯示，可采用數(shù)據(jù)直接快速比較。

5、LSI在線/離線分析技術(shù)

    大規(guī)模集成電路簡(jiǎn)稱LSI，典型器件如8255、8237、Z80等，由于其構(gòu)造復(fù)雜、功能組態(tài)多樣、可配置，一般采用矢量分析測(cè)試技術(shù)。

⑴[離線功能測(cè)試]
    遵照測(cè)試庫(kù)中離線標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試矢量，嚴(yán)格對(duì)LSI各個(gè)子功能進(jìn)行逐項(xiàng)測(cè)試。
⑵[在線分析測(cè)試]
    首先將好電路板上LSI的配置提取出來(lái)，并根據(jù)其連接關(guān)系，對(duì)測(cè)試矢量進(jìn)行修正。將修正后的測(cè)試矢量定為相應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試矢量，施加至LSI后取回的響應(yīng)定為標(biāo)準(zhǔn)響應(yīng)矢量。維修時(shí)，只需對(duì)故障板相同位置的LSI進(jìn)行對(duì)比測(cè)試，即可確定被測(cè)LSI有無(wú)故障。

6、三端器件在線/離線功能測(cè)試（GR8080以上儀器具備此功能）

    三端器件多指三極管、場(chǎng)效應(yīng)管、可控硅、光耦、繼電器等，共同特點(diǎn)是：在控制端上施加控制信號(hào)后，可以控制其導(dǎo)通與截止的狀態(tài)。根據(jù)這種特性，在對(duì)三端器件控制端施加控制信號(hào)時(shí)，通過(guò)觀察其另兩端之間VI曲線的變化，可以判斷三端器件是否進(jìn)入預(yù)期狀態(tài)，從而確定其功能好壞。
    測(cè)試中充分考慮了電路板的復(fù)雜性和三端器件的多樣性，采用的是可編程輸出同步控制信號(hào)，分為：-4.5V～+4.5V（自動(dòng)設(shè)置）和-28V～+28V（手動(dòng)設(shè)置），可滿足在線和離線對(duì)三端器件功能測(cè)試的需要。

7、穩(wěn)壓塊在線/離線精確測(cè)試（GR8080以上儀器具備此功能）

    可在線/離線精確測(cè)試78、79等系列穩(wěn)壓塊以及其它類(lèi)型的穩(wěn)壓器件。測(cè)試時(shí)自動(dòng)施加-28V～+28V測(cè)試電壓，測(cè)試分辨精度高，對(duì)穩(wěn)壓塊輸出抖動(dòng)（不穩(wěn)定）可準(zhǔn)確判定，實(shí)際維修中，多次發(fā)現(xiàn)并修復(fù)因穩(wěn)壓塊輸出抖動(dòng)引起的電路故障。

8、模擬IC型號(hào)識(shí)別

    對(duì)集成運(yùn)放、電壓比較器、A/D、D/A等標(biāo)識(shí)不清的模擬IC離線進(jìn)行型號(hào)識(shí)別和直接特性測(cè)試。準(zhǔn)確識(shí)別模擬IC型號(hào)，對(duì)于維修時(shí)的電路分析具有現(xiàn)實(shí)意義。

9、電路板網(wǎng)絡(luò)提取與測(cè)試（GR4080以上儀器具備此功能）

    “網(wǎng)絡(luò)提取”可對(duì)電路板實(shí)際連接進(jìn)行提取并反演PCB電路圖，支持三種操作方式，
    即：測(cè)試夾——測(cè)試夾
    測(cè)試夾——測(cè)試筆
    測(cè)試筆——測(cè)試筆
    無(wú)論IC之間或與分立元件之間的連接關(guān)系均可被提取，并以器件的連接表、網(wǎng)絡(luò)表的形式輸出。連接表可讀性強(qiáng)，便于用戶查閱和索引。網(wǎng)絡(luò)表與PROTEL繪圖軟件兼容，可導(dǎo)入并繪制出電路板的PCB圖。
    “網(wǎng)絡(luò)測(cè)試”可事先存儲(chǔ)好電路板上的器件連接信息，然后同故障電路板進(jìn)行對(duì)比測(cè)試。適于對(duì)器件之間的短路、斷路故障進(jìn)行查找。

10、整板輔助測(cè)試功能（GR8080以上儀器具備此功能）

    如果懂被測(cè)電路板的工作原理、知曉相應(yīng)信號(hào)的工作流程，可施加特定的輸入、輸出信號(hào)進(jìn)行分析，起到輔助測(cè)試的作用。

⑴[雙夾信號(hào)收發(fā)]
    測(cè)試夾1可對(duì)IC各個(gè)管腳自定義測(cè)試代碼，連續(xù)施加高、低、三態(tài)等電平，狀態(tài)和節(jié)拍可設(shè)定。測(cè)試夾2可以從相關(guān)IC上瞬時(shí)采集數(shù)據(jù)，從而對(duì)局部數(shù)字電路進(jìn)行狀態(tài)分析或?qū)Ρ葴y(cè)試，完成一個(gè)簡(jiǎn)單邏輯分析儀的功能。
⑵[任意方波輸出]
    測(cè)試夾1可同時(shí)施加40路頻率可調(diào)