實(shí)驗(yàn)室必備顯微設(shè)備
C2+共聚焦顯微鏡系統(tǒng)是新研發(fā)的Nikon 共聚焦儀器的一部分，新開發(fā)的產(chǎn)品為必要的實(shí)驗(yàn)室顯微鏡工具。由于產(chǎn)品有令人難以置信的穩(wěn)定性，操作簡易，且有優(yōu)越的光學(xué)性能和高速圖像采集（可達(dá)100 幀/秒*）能力。 C2+可作為出色顯微鏡工具（新購置），或?qū)⒁延械哪峥碉@微鏡升級為C2+共聚焦系統(tǒng)。
配置Ni-E正置顯微鏡
| 圖像質(zhì)量
Nikon 無與倫比的光學(xué)組件和久經(jīng)考驗(yàn)的高效光學(xué)設(shè)計(jì)可在最遠(yuǎn)的工作距離下提供最明亮與最清晰的圖像。
? 高效掃描頭和檢測器
具備方便小巧的掃描頭， 使C2+可用于各類Nikon 顯微鏡。C2+使用高精度振鏡與優(yōu)質(zhì)圓形光學(xué)針孔，分離式檢測有效隔離熱原同噪音，可獲取低噪音，高對比度與高品質(zhì)的共聚焦圖像。新開發(fā)的掃描驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)和Nikon獨(dú)有的圖像校正技術(shù)，允許8幀/秒（512 x 512像素）和100幀/秒（512 x 32 像素）的高速成像。
? 高性能光學(xué)鏡頭
CFI復(fù)消色差λS系列
此系列高數(shù)值孔徑（NA）物鏡為共聚焦拍攝的理想之選，其對寬波長范圍自紫外光具有色差校正功能。尤其是LWD 40 ×WI物鏡色差校正可達(dá)紅外范圍。使用Nikon獨(dú)有的納米晶體涂層技術(shù)可有效增加光線透過率。
CFI Apochromat 40xWI λS, NA1.25 (左)；CFI Apochromat LWD 40xWI λS, NA1.15 (中)；CFI Apochromat 60x Oil λS, NA1.4 (右)
CFI復(fù)消色差TIRF 系列
此系列物鏡的NA值為1.49 （使用標(biāo)準(zhǔn)的蓋玻片和浸油），在Nikon物鏡中具備最高的分辨率。配備溫度校正環(huán)可在23°C～37°C溫度范圍對圖像質(zhì)量進(jìn)行校正。
CFI Apochromat TIRF 60x oil, NA1.49 (左)；CFI Apochromat TIRF 100x oil, NA1.49 (右)
? 高清晰度微分干涉（DIC）圖像
C2+能同時(shí)獲得三個(gè)通道的熒光，或同時(shí)實(shí)現(xiàn)三通道熒光與透射微分干涉（DIC）的觀察。高品質(zhì)DIC圖像和熒光圖像可以疊加,以便進(jìn)行形態(tài)分析。
DIC圖像 DIC+熒光圖像
| 高功能
高效圖像處理軟件NIS-Elements提供各種圖像處理和分析功能。并可從圖像中提取數(shù)據(jù)。此外，NIS-Element 可實(shí)現(xiàn)Nikon 顯微鏡和其他第三方外設(shè)，如EMCCD相機(jī)和濾光輪的直接操作，使其可適用于各類實(shí)驗(yàn)應(yīng)用。
? 多種拍攝模式
單一軟件包即可提供各種成像方法，如共聚焦、寬視野、TIRF 、光活化，并同時(shí)具有圖像的處理、分析和呈現(xiàn)的功能。用戶可在統(tǒng)一的界面與工作流程中輕松掌握控制不同的成像系統(tǒng)。
易于辨識的激光與探測器設(shè)置 掃描闡述設(shè)置
| 靈活性
C2+可與正置、倒置、電生理和宏觀成像顯微鏡聯(lián)合使用，且可以與各種高質(zhì)量研究試驗(yàn)系統(tǒng)聯(lián)合使用?？捎肗IS-Element 軟件控制所有的尼康顯微鏡系統(tǒng)。
? TIRF/光活化-C2+多模式成像系統(tǒng)
可整合選配的TIRF 激光照明模塊和與光活化模塊，實(shí)現(xiàn)高S/N比單分子成像，并捕捉光活化與光轉(zhuǎn)化中熒光蛋白熒光特征變化圖像。
? AZ-C2+宏觀共聚焦系統(tǒng)
在高清晰度的大視野下，超過1 cm的大樣本都可獲取高S/N比的圖像。AZ-C2+可獲取完整樣品的圖像，如胚胎，單次拍照，高達(dá)2048×2048像素分辨率，并可使用C2si+獲得32通道光譜數(shù)據(jù)?？蓪⒌捅堵逝c高倍率物鏡，光學(xué)變焦和共焦掃描變焦功能相結(jié)合，從宏觀到微觀連續(xù)成像。
