激光開封機 激光開蓋機
IC開蓋,時間約1分鐘左右,特別是銅引線封裝有很好的開封效果.不像酸性法開蓋容易受有些金屬如銅容易和酸發(fā)生化學反應.

是一家專注從事失效分析開封設備的美國公司，有著30多年自動開封研發(fā)制造歷史。作為自動塑封開封技術的世界領導者, 可以提供全面的產品,方法和技術支持來滿足所有半導體器件的開封要求。Control Laser公司承諾提供創(chuàng)新的，高質量的產品來滿足半導體器件失效性分析領域內不斷變化的需求。

新! 激光開封設備Laser Decapsulator
Control Laser *產品激光開封設備FA LIT系列。半導體業(yè)的銅引線封裝越來越成為發(fā)展主流，傳統(tǒng)的化學開封已無法完全滿足銅引線封裝的開封要求。FA LIT的誕生給分析領域帶來了新的技術。

激光開封機

激光開封機
　　激光刻蝕封裝材料

　　應用范圍：
　　可移除任何塑封器件的封裝材料
　　PCB板的開封及截面切割
　　功率器件和IC托盤上多個開封的預開槽

　　特點：
　　能夠產生復雜的刻蝕開口形狀
　　不破壞Al，Cu，Au而暴露內部結構
　　有利于隨后用酸的清除操作，能夠用于低溫、低腐蝕條件
　　可選組件能夠進行完全開封能夠生產各種復雜形狀的型腔

　　激光刻蝕系統(tǒng)專門設計用于有效的進行IC器件的開封，既可以用于單個器件也可以用于多個器件。

　　系統(tǒng)心臟為一個Nd：YAG 1064nm二極管抽運激光頭，它被安裝在有完全激光*保護的腔體里，符合VBG 93、DIN EN和CE標準。

　　集成的光學觀察系統(tǒng)可以保證穩(wěn)定的監(jiān)測樣品。也可以將X光或超聲波圖像疊加在要開封的器件的圖像上，可以為成功的開封提供額外的數(shù)據(jù)。

　　視覺失效分析軟件包含畫圖工具，可以在器件圖片上繪圖，用于定位要去除的材料。實際被去除的材料總量可以通過攝像機的聚焦-景深技術或額外的機械儀表進行測量。

　　系統(tǒng)軟件控制所有的程序參數(shù)，如功率、頻率、掃描速度、聚焦距離等。所有程序參數(shù)都能夠以特定材料和產品名存儲，以便容易的調用。

　　激光刻蝕之后，芯片表面能夠用濕法刻蝕在低溫下暴露出來，可以手動（滴上適當?shù)乃嵋海┗蜃詣樱ㄓ米詣铀衢_封機）進行，避免機械或電性變化。

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