SB2204型智能化介質(zhì)損耗測試儀 一．概述 SB2224型智能化介質(zhì)損耗測試儀是一種新穎的測量介質(zhì)損耗（tgδ）和電容值（Cx）的數(shù)顯式儀器。用語在共頻高壓下，測量各種絕緣材料、絕緣套管、電力電纜、電容器、互感器、變壓器等高壓設(shè)備的介質(zhì)損耗（tgδ）和電容值（Cx）。儀器不僅可以測量兩個電極與地絕緣的試品，也可以測量一極接地的試品。與西林電容電橋相比，具有操作簡單、使用方便、讀數(shù)直觀、無需換算、抗干擾能力強等優(yōu)點。 二．技術(shù)指標 環(huán)境溫度：0-40℃ 相對濕度：30%-80% 供電電源：電壓：220V±22V，頻率：50±1Hz 外型尺寸：1×b×h, mm：560×320×400 重量：不大于40kg 功耗：不大于15kvA 測量范圍：介質(zhì)損耗（tgδ）：±0-0.3 最小測量電流：5μA 輸出電壓及最大輸出電流：10kv(100mA)、 3kv（333mA）、1kv（500mA）。輸出電壓倍率：×1，×0.75，×0.5 基本測量誤差： 測量內(nèi)容 Tgδ范圍 測量電流（Icx）范圍及輸出電壓 工作方式 基本誤差 介質(zhì)損耗因數(shù)（tgδ） tgδ≤0.1 20μA≤Icx≤500mA輸出電壓＞1Kv 正接線法 ±（1%讀數(shù)+0.0008） 反接線法 ±（1%讀數(shù)+0.0015） 10μA≤Icx﹤20μA輸出電壓＞1kv 正接線法 ±（2%讀數(shù)+0.0015） 反接線法 ±（2%讀數(shù)+0.0025） 5μA≤Icx﹤10μA輸出電壓≤1kv 正接線法和反接線法 0.1﹤tgδ≤ 0.3 20μA≤Icx≤500mA 電容量 0≤tgδ≤0.3 5μA≤Icx≤500mA ±（2%讀數(shù)+1.5PF）