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X熒光光譜儀由激發(fā)源和探測系統(tǒng)構成受激發(fā)的樣品中的每一種元素會放射出二次X射線，并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性。探測系統(tǒng)測量這些放射出來的二次X射線的能量及數(shù)量。然后，儀器軟件將探測系統(tǒng)所收集到的信息轉換成樣品中各種元素的種類及含量。

針對EDX1800在各個領域的廣泛應用，根據(jù)優(yōu)化產(chǎn)品性能和提高安全防護等級的需求，特別設計該款EDX1800B。應用新一代的高壓電源和X光管，提高產(chǎn)品的可靠性；利用新X光管的大功率提高儀器的測試效率。

X熒光光譜儀性能特點

1.下照式：可滿足各種形狀樣品的測試需求;

2.準直器和濾光片：多種準直器和濾光片的電動切換，滿足各種測試方式的應用;

3.移動平臺：精細的手動移動平臺，方便定位測試點;

4.高分辨率探測器：提高分析的準確性;

5新一代的高壓電源和X光管：性能穩(wěn)定可靠，高達100W的功率實現(xiàn)更高的測試效率;

X熒光光譜儀儀器優(yōu)點：

a) 分析速度高。測定用時與測定精密度有關，但一般都很短，2～5分鐘就可以測完樣品中的全部待測元素。

b) X射線熒光光譜跟樣品的化學結合狀態(tài)無關，而且跟固體、粉末、液體及晶質(zhì)、非晶質(zhì)等物質(zhì)的狀態(tài)也基本上沒有關系。（氣體密封在容器內(nèi)也可分析）但是在高分辨率的精密測定中卻可看到有波長變化等現(xiàn)象。特別是在超軟X射線范圍內(nèi)，這種效應更為顯著。波長變化用于化學位的測定 。

c) 非破壞分析。在測定中不會引起化學狀態(tài)的改變，也不會出現(xiàn)試樣飛散現(xiàn)象。同一試樣可反復多次測量，結果重現(xiàn)性好。

d) X射線熒光分析是一種物理分析方法，所以對在化學性質(zhì)上屬同一族的元素也能進行分析。

e) 分析精密度高。

f) 制樣簡單，固體、粉末、液體樣品等都可以進行分析。

儀器校準不斷豐富服務內(nèi)容，完善服務方式，提高服務質(zhì)量等方面做出不懈的努力，還擁有一支經(jīng)驗豐富，專業(yè)水平高，綜合能力強的技術隊伍。是完美解決各廠家審廠問題計量檢測機構；熱線：0769-88480569

【服務質(zhì)量承諾】

行為公正: 自覺遵守公正性聲明。

方法科學: 遵循科學求實原則，嚴格按照規(guī)定的方法從事校準工作。

結果精準: 證書規(guī)范嚴謹、數(shù)據(jù)精準可靠。

工作高效: 根據(jù)實際情況和客戶需求，不斷改進業(yè)務流程，確保校準工作在承諾的時間內(nèi)完成。

收費合理: 校準費用不高于國家及省、市物價部門批準的收費標準，不高于同行平均水平。

客戶滿意: 主動了解客戶需要, 提供優(yōu)質(zhì)服務, 及時受理和處置客戶的投訴，提供快捷、方便的后續(xù)服務。

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