微分干涉顯微鏡

WFX-10顯微鏡穩(wěn)定可靠，操作方便，成像清晰,圖像輸出功能。廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體、電子工業(yè)。對(duì)晶體、集成電路的檢驗(yàn)和科學(xué)研究。WFX-10顯微鏡為無(wú)限遠(yuǎn)光學(xué)系統(tǒng)，采用長(zhǎng)工作距離平場(chǎng)復(fù)消色差物鏡，穩(wěn)定可靠的架臺(tái)，精確的調(diào)焦機(jī)構(gòu)。

lLED同軸落射光源和LED透射光源照明系統(tǒng)。

l偏光系統(tǒng)檢偏鏡可轉(zhuǎn)動(dòng)100度便于偏光正交觀察。

l可調(diào)節(jié)的DIC棱鏡插板可得到最佳的微分干涉效果。

l視野單目觀察，減少很多中間環(huán)節(jié)，成像更清晰。

l可以配置各種圖像采集設(shè)備。

顯微鏡用途：

1．明場(chǎng)觀察：亮度可調(diào)的同軸照明，適用晶體、集成電路的檢驗(yàn)、精密制造業(yè)的裝配、零件檢測(cè)和品質(zhì)控制。

2．透射觀察：亮度可調(diào)的透射照明，可觀察透明樣品，尤其對(duì)液晶顯示屏的檢測(cè)效果更好，能清楚觀察檢測(cè)發(fā)光屏的三色模塊。

3．偏光觀察：系統(tǒng)內(nèi)裝置偏光機(jī)構(gòu)，起偏鏡固定在照明系統(tǒng)；檢偏鏡裝置在成像系統(tǒng)、100度可調(diào)，便于正交觀察。主要對(duì)金相樣品進(jìn)行正交偏振光觀察，還可應(yīng)用于礦物、化學(xué)等領(lǐng)域。

4.    DIC觀察--微分干涉觀察：在明場(chǎng)、偏光正交的系統(tǒng)里再插入DIC棱鏡裝置（渥拉斯頓棱鏡）。DIC作為一種極具前途的分析檢驗(yàn)方法，具有對(duì)金相樣品的制備要求較低，所觀察到的樣品各組成之間的相對(duì)層次關(guān)系突出，呈明顯的浮雕狀，對(duì)顆粒、裂紋、孔洞以及凸起等能作出正確的判斷，能夠容易判斷許多明場(chǎng)下所看不到的或難于判別的一些結(jié)構(gòu)細(xì)節(jié)或缺陷，可進(jìn)行彩色金相攝影等優(yōu)點(diǎn)。

尤其對(duì)液晶顯示屏導(dǎo)電板的檢測(cè)效果更好，能夠清楚的觀察到導(dǎo)電板基板上的導(dǎo)電粒子。使用DIC技術(shù)，可以使物體表面微小的高低差展現(xiàn)出清晰，輪廓突出，帶立體感的浮雕成像，極大的提高圖像的對(duì)比度。

明場(chǎng)觀察	DIC觀察導(dǎo)電粒子

規(guī)格配置：

1.無(wú)限遠(yuǎn)光學(xué)系統(tǒng)：f=200mm

2.放大位數(shù)：50X、100X、200X、500X

3.長(zhǎng)工作距離：5~45mm

4.調(diào)焦范圍：60mm

5.工作臺(tái)：260X220mm、玻璃臺(tái)版：170X150mm

6.移動(dòng)范圍：X：±75mm、 Y：±75mm