優(yōu)化光學(xué)測試和測量平臺，以具有成本效益的方式開發(fā)和制造光傳輸網(wǎng)絡(luò)元件。 JDSU 多應(yīng)用平臺 (MAP-200) 是一個光學(xué)測試和測量平臺，專為高性價比開發(fā)和制造光傳輸網(wǎng)絡(luò)元件而優(yōu)化。
當(dāng)今瞬息萬變的光學(xué)市場要求對提高生產(chǎn)力的技術(shù)和工具進(jìn)行投資，使 MAP-200 可擴展的測試平臺成為即使在最嚴(yán)苛的環(huán)境中也需要的正確工具。
MAP-200 基于上一代多應(yīng)用平臺 (MAP)，在密集且最可配置的平臺上提供最廣泛的模塊組合的差異化。 MAP-200 針對從插入損耗測試到色散懲罰測試的實驗室和制造環(huán)境中的測試應(yīng)用進(jìn)行了優(yōu)化。
可用的模塊包括寬帶源、EDFA、法布里-珀羅激光、LED 源、偏振控制器等
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