優(yōu)化光學(xué)測(cè)試和測(cè)量平臺(tái)，以具有成本效益的方式開(kāi)發(fā)和制造光傳輸網(wǎng)絡(luò)元件。 JDSU 多應(yīng)用平臺(tái) (MAP-200) 是一個(gè)光學(xué)測(cè)試和測(cè)量平臺(tái)，專(zhuān)為高性?xún)r(jià)比開(kāi)發(fā)和制造光傳輸網(wǎng)絡(luò)元件而優(yōu)化。
當(dāng)今瞬息萬(wàn)變的光學(xué)市場(chǎng)要求對(duì)提高生產(chǎn)力的技術(shù)和工具進(jìn)行投資，使 MAP-200 可擴(kuò)展的測(cè)試平臺(tái)成為即使在最嚴(yán)苛的環(huán)境中也需要的正確工具。
MAP-200 基于上一代多應(yīng)用平臺(tái) (MAP)，在密集且最可配置的平臺(tái)上提供最廣泛的模塊組合的差異化。 MAP-200 針對(duì)從插入損耗測(cè)試到色散懲罰測(cè)試的實(shí)驗(yàn)室和制造環(huán)境中的測(cè)試應(yīng)用進(jìn)行了優(yōu)化。
可用的模塊包括寬帶源、EDFA、法布里-珀羅激光、LED 源、偏振控制器等
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