5.7.2.5 低壓配電線路埋地引入和連接的檢查與測試應(yīng)按本標準5.7.1.1.6條和5.7.1.2.4條的要求，檢查低壓配電線路是否全線埋地或敷設(shè)在架空金屬線槽內(nèi)引入。如全線采用電纜埋地引入有困難，采用5.7.1.1.6條規(guī)定的另一方式時，應(yīng)檢查電纜埋地長度和電纜與架空線連接處使用的避雷器、電纜金屬外皮、鋼管和絕緣子鐵腳等接地連接質(zhì)量，連接導(dǎo)體的材料和尺寸，連接兩端的過渡電阻使用毫歐表測試時不應(yīng)大于0.03Ω。5.7.2.6 第一類和處在爆炸危險環(huán)境的第二類防雷建筑物外架空金屬管道的檢查和測試。應(yīng)按本標準5.7.1.1.7條和5.7.1.2.5條的要求，檢查架空金屬管道進入建筑物前是否每隔25m接地一次，應(yīng)進一步檢查連接質(zhì)量，連接導(dǎo)體的材料和尺寸，連接兩端的過渡電阻使用毫歐表測試時不應(yīng)大于0.03Ω。5.7.2.7 建筑物內(nèi)豎直敷設(shè)的金屬管道及金屬物的檢查和測試應(yīng)按本標準5.7.1.2.7條中的要求，檢查建筑物內(nèi)豎直敷設(shè)的金屬管道及金屬物與建筑物內(nèi)鋼筋就近不少于兩處的連接，如已實現(xiàn)連接，應(yīng)進一步檢查連接質(zhì)量，連接導(dǎo)體的材料和尺寸，連接兩端的過渡電阻使用毫歐表測試時不應(yīng)大于0.03Ω。5.7.2.8 進入建筑物的外來導(dǎo)電物連接和檢查和測試所有進入建筑物的外來導(dǎo)電物均應(yīng)在LPZ0區(qū)與LPZ1區(qū)界面處與總等電位連接帶連接，如已實現(xiàn)連接應(yīng)進一步檢查連接質(zhì)量，連接導(dǎo)體的材料和尺寸，連接兩端的過渡電阻使用毫歐表測試時不應(yīng)大于0.03Ω。

（6） 殘壓值為四次直接讀取數(shù)據(jù)的平均值，或根據(jù)記錄的電壓和電流示波繪制的“放電電流-殘壓絕對值”曲線對應(yīng)電流范圍內(nèi)殘壓最高值。d） 用1.2/50μs沖擊電壓測量放電（點火）電壓（1） 本測試僅適用于含開關(guān)型元件的SPD，將SPD兩端連線拆除，按測試儀器說明書連接進行測試。（2） 以每個沖擊電壓幅值對SPD施加四次沖擊，其中正負極性各二次。（3） 每次沖擊的間隔時間應(yīng)足以試品冷卻至環(huán)境溫度，一般不應(yīng)小于5min。（4） 沖擊發(fā)生器的輸出電壓值設(shè)定在生產(chǎn)廠標稱值Uc 起,以10%的幅度遞增,直至放電發(fā)生。（5） 記錄實測開關(guān)型SPD放電電壓值。e） 用混合波測限制電壓（1） 本試驗僅適用于Ⅲ級分類試驗的產(chǎn)品。如果SPD為可插拔式則應(yīng)將可插拔模塊拔下測試，如果不是可插拔式,可將SPD兩端連線拆除，按測試儀器說明書連接進行測試。（2） 用開路電壓U0c 波形為1.2/50μs,短路電流ISC波形為8/20μs的混合波發(fā)生器產(chǎn)生沖擊對SPD進行測試。

圖4 多組SPD逐一測試示意圖 合格判定：當實測值大于生產(chǎn)廠標稱的最大值時，判定為不合格，如生產(chǎn)廠未標定出I1e值時，一般不應(yīng)大于20μA。5.8.3.6 壓敏電壓（U1mA ）的測試a） 本試驗僅適用于以金屬氧化物壓敏電阻（MOV）為限壓元件且無其它并聯(lián)元件的SPD。主要測量在MOV通過1mA直流電流時，其兩端的電壓值。

b） 將SPD的可插拔模塊取下測試，或?qū)⒉豢刹灏问絊PD兩端連線拆除，按測試儀器說明書連接進行測試。如SPD為一件多組并聯(lián)，應(yīng)用圖4所示方法測試，SPD上有其他并聯(lián)元件時，測試時不對其接通。c） 將測試儀器的輸出電壓值按儀器使用說明及試品的標稱值選定，并逐漸提高，直至測到通過1mA直流時的壓敏電壓。d） 對內(nèi)部帶有濾波或限流元件的SPD，應(yīng)不帶濾波器或限流元件進行測試。e） 合格判定：當U1mA值為交流電路中U0值1.86至2.2倍時，在直流電路中為直流電壓1.33至1.6倍時，在脈沖電路中為脈沖初始峰值電壓1.4至2.0倍時，可判定為合格。也可與生產(chǎn)廠提供的允許公差范圍表對比判定。