美國布魯克Bruker原子力顯微鏡-- Dimension FastScan

Bruker公司的AFM具有多項專利技術(shù)，以其卓越的性能廣泛應(yīng)用于科研和工業(yè)界各領(lǐng)域

Dimension  FastScanTM 原子力顯微鏡（Atomic  Force Microscope，AFM），在不損失Dimension?  Icon?超高的分辨率和卓越的儀器性能前提下，*限度的提高了成像速度。這項突破性的技術(shù)創(chuàng)新，從根本上解決了AFM成像速度慢的難題，大大縮短了各技術(shù)水平的AFM用戶獲得高質(zhì)量數(shù)據(jù)的時間,是世界上掃描速度最快的原子力顯微鏡。

應(yīng)用：

應(yīng)用于科研和工業(yè)界各領(lǐng)域，涵蓋了聚合物材料表征，集成光路測量，材料力學(xué)性能表征，MEMS制造，金屬/合金/金屬蒸鍍的性質(zhì)研究，液晶材料性能表征，分子器件，生物傳感器，分子自組裝結(jié)構(gòu)，光盤存儲，薄膜性能表征等領(lǐng)域的監(jiān)測等各類科研和生產(chǎn)工作。

原子力顯微鏡的工作模式是以針尖與樣品之間的作用力的形式來分類的。主要有以下3種操作模式：接觸模式（contact mode) ，非接觸模式（ non - contact mode) 和敲擊模式( tapping mode）。