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測量顯微鏡,日本Union測量顯微鏡

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測量顯微鏡,日本Union測量顯微鏡

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  • 單價(jià):
    面議
  • 可售數(shù)量:
  • 品牌名稱:
  • 所在地:
    廣東東莞
  • 產(chǎn)品規(guī)格:
  • 包裝說明:
  • 商品名稱:測量顯微鏡,日本Union測量顯微鏡
  • 自定義分類:儀器
  • 上架時(shí)間:2015/9/23 16:16
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產(chǎn)品關(guān)鍵詞: 顯微鏡,測量顯微鏡,光學(xué)顯微鏡,

型號:HISOMETDHII

品牌:日本UNION

 

品牌介紹:

HISOMETDHII測量顯微鏡由Union光學(xué)株式會(huì)社生產(chǎn),Union光學(xué)株式會(huì)社為日本綜合光學(xué)機(jī)器廠商,

產(chǎn)品優(yōu)勢:

DHII測量顯微鏡是由UNION的專利研發(fā)生產(chǎn),采用裂像圖案的輔助聚焦系統(tǒng) ,通過裂像的上下標(biāo)記線重合來得到確切的對焦面 ,而不是通過觀察工件表面是否清晰來人為判斷 ,因此可以得到非常高精度的高度測量 .此測量顯微鏡在半導(dǎo)體封裝和電子裝配應(yīng)用領(lǐng)域中已充分表現(xiàn)出其獨(dú)特性能和精度,是業(yè)界的首選裂像圖案的輔助聚焦系統(tǒng)

此設(shè)備采用Union光學(xué)株式會(huì)社專有的裂像輔助對焦系統(tǒng),能在測高方面達(dá)到1微米的精度。完全勝過尼康NIKON、奧林巴斯OLYMPUS等同類型測量顯微鏡。

 

 DHII測量顯微鏡在封裝行業(yè)的應(yīng)用

1.測量金線弧高 ,晶片高度和基板高度晶片的刻線寬度 ,距離和位置等平面尺寸

A:測量金線弧高進(jìn)行對焦

B:測量晶片高度進(jìn)行對焦

C:對基板進(jìn)行對焦測量

 

2.測量晶片表面四周 1-2-3-4點(diǎn)的高度差 ,可以評估封裝后晶片的平面度 /共面性

3.現(xiàn)在 8”和 12”晶圓是趨勢和晶圓級封裝技術(shù)采用 ,需要快速一次進(jìn)行平面和高度 /階梯測量,因此測量顯微鏡工作臺行程 200X200mm和 300X300mm已成為必需 ,同時(shí)根據(jù)工藝的要求,可以選用不同的臺面 ,如標(biāo)準(zhǔn)的方玻璃臺面 ,特配的可旋轉(zhuǎn)圓臺面 ,或者晶圓托盤 

 

產(chǎn)品詳情: http://www.wyldar.com/productshow.asp?id=1006

 

 

產(chǎn)品關(guān)鍵詞: 顯微鏡,測量顯微鏡,光學(xué)顯微鏡,
測量顯微鏡,日本Union測量顯微鏡
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