運用ZLDS100位移傳感器測量SIM卡卡槽深度

現(xiàn)代工藝的發(fā)展已經明顯呈現(xiàn)出高精尖和更具便利性的方向，在手機和平板電腦的發(fā)展過程中尤為突出，一項科研報告指出，目前一部智能手機所集成的功能和運算能力已經超越了一臺90年代高端電腦。在工藝越來越細化的今天，許多相應的配件也進一步的向精細化方向發(fā)展，但又因為精密工業(yè)對產品規(guī)格的嚴格要求，對產品規(guī)格的檢測一度成為制約行業(yè)發(fā)展的一個瓶頸問題，但真尚有ZLDS100位移傳感器的運用，使這個難題迎刃而解。

檢測方案：

1、通過二維激光傳感器ZLDS200對SIM卡卡槽進行掃描，得到完整清晰的輪廓曲線，在通過簡單的算法來計算出想要得到的卡槽深度數(shù)據。可以保證Z軸方向0.1%-0.15%的線性度，采樣平率為500Hz；

2、同樣可以通過使用ZLDS100位移傳感器來進行測量。這需要制作配套的支架與運動機構。加上時間的坐標也就是一個二維傳感了，可以測量一條線上的輪廓，當然也就可以得到客戶需要的高度值。該位移傳感器可以做到50KHz的采樣頻率，可以滿足有特殊應用要求的客戶。

在第二套測量方案中，需要注意的是奇點前面是一段弧面，對于奇點的測量會有零點出現(xiàn)的現(xiàn)象，所以需要通過一些巧妙的算法來支撐才能得到我們想要的結果。

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