CAL鍍層標準片又名膜厚儀校準片，專業(yè)用于X射線測厚儀（膜厚儀）在測金屬鍍層厚度時進行的標準化校準及建立測試檔案。也就是我們在膜厚測試中常用的標準曲線法，是測量已知厚度或組成的標準樣品，根據(jù)熒光X-射線的能量強度及相應(yīng)鍍層厚度的對應(yīng)關(guān)系，來得到標準曲線。之后以此標準曲線來測量未知樣品，以得到鍍層厚度或組成比率。對于PCB、五金電鍍和半導(dǎo)體等行業(yè)使用測厚儀來檢測品質(zhì)和控制成本起到了很重要的作用。  

CAL鍍層標準片適用于費希爾Fischer、宏德Roentgenanalytik、牛津Oxford、CMI、熱電Thermo、Veeco、微先鋒MicroPioneer、精工Seiko、島津、電測、博曼BOWMAN、禾苗、納優(yōu)、天瑞、華唯等各廠牌X-ray（X射線測厚儀）、β-ray（β射線測厚儀）、磁感式及渦電流等多種原理的設(shè)備。  

美國CALMETRIC公司的所有標準片，都會對標準片進行重新鑒定，其所有證書都是符合NIST（NationalInstituteofStandardsandTechnology美國國家標準與技術(shù)研究院）標準或ANSI（AmericanNationalStandardsInstitute美國國家標準學(xué)會）標準。每一片標準片都由具有資質(zhì)的獨立第三方出具校準證書。  

美國CAL標準片，CALMETRIC標準片，CMI標準片，測厚儀標準片，CAL校正片，又稱標準箔，膜厚片，通用于所有X射線鍍層測厚儀(進口品牌Fischer、Oxford（CMI）、Thermo、Veeco、MicroPioneerXRF-2000、SeikoSII等，國產(chǎn)天瑞，納優(yōu)等)。  

1.薄膜片，單層測量品種：鎳（Ni）；鉻（Cr）；銅（Cu）；鋅（Zn）；Cd（鎘）；錫（Sn）；銀（Ag）；金（Au）；鈀(Pd)等，其它鍍層可定制.  

2.CAL鍍層標準片：雙鍍層：Au/Ni/xx，三鍍層：Au/Pd/Ni/xx等.  

3.合金標準片：合金鍍層測量：Sn-Pb、Cu-Zn、Zn-Ni、Ni-P等.  

4.測量厚度范圍：0.01~300μm.

更多：CAL鍍層標準片 http://www.kindtec.com/SonList-1318884.html

http://www.chem17.com/st318610/erlist_1318884.html