非接觸測厚ZM100測透明薄膜的厚度
客戶需求：測透明薄膜的厚度
量程：1-3mm
測量方案：采用ZM100非接觸測厚儀檢測：將薄膜套在標準軸上，通過測標準軸和套薄膜的標準軸的直徑，間接檢測薄膜的厚度。精度5um。
薄膜厚度測量通過軟件對測量數(shù)據(jù)進行處理和誤差補償從而能夠消除電路和傳感器的長期漂移對測量精度的影響、測量數(shù)據(jù)長期穩(wěn)定。由于薄板厚度的變化可以看成是薄膜的位移變化，所以利用非接觸測厚儀測量位移的原理對薄膜厚度的變化進行測量是一種較為理想的非接觸測量方法。
檢測方法如圖所示：
ZM100非接觸測厚儀應(yīng)用領(lǐng)域：
可用于物體尺寸的非接觸測量與控制，如零件高度、邊緣、直徑、線徑、寬度、間隙、內(nèi)徑、外徑等。有效降低了生產(chǎn)后的單件檢驗成本，并能有效節(jié)省原物料的損耗，降低人員需求。
非接觸測厚儀主要特點：
高精度：最高線性度5um；
量程范圍廣：可測500mm外徑的物體（可根據(jù)實際情況定制更大外徑型號）；
支持多個傳感器同步采集（確保工業(yè)在線高精度差動測厚）；
可以對操作系統(tǒng)實施不同的參數(shù)設(shè)置，改變測量方式；
在PC上十分直觀的顯示出測量值，方便對測量過程實施監(jiān)控。
非接觸測厚儀工作原理：
ZM10X由兩部分構(gòu)成：發(fā)射器1 和接收器2。激光發(fā)光二極管3的光通過光學系統(tǒng)4形成了光幕。被測物體5的陰影圖像通過望遠鏡系統(tǒng)6最終形成在線性CCD陣列7上。信號處理器9計算出它的大小。
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