布魯克Bruker原子力顯微鏡ARM/表面形貌/粗糙度/電學(xué)/磁學(xué)性能測量系統(tǒng)

Bruker公司的AFM具有多項專利技術(shù)，以其卓越的性能廣泛應(yīng)用于科研和工業(yè)界各領(lǐng)域

Dimension Edge原子力顯微鏡采用了布魯克的一些創(chuàng)新技術(shù)，達到了同類產(chǎn)品的*水平，為納米尺度的科學(xué)研究提供了高效率、高性價比的強大工具。

應(yīng)用：

應(yīng)用于科研和工業(yè)界各領(lǐng)域，涵蓋了聚合物材料表征，集成光路測量，材料力學(xué)性能表征，MEMS制造，金屬/合金/金屬蒸鍍的性質(zhì)研究，液晶材料性能表征，分子器件，生物傳感器，分子自組裝結(jié)構(gòu)，光盤存儲，薄膜性能表征等領(lǐng)域的監(jiān)測等各類科研和生產(chǎn)工作。

原子力顯微鏡的工作模式是以針尖與樣品之間的作用力的形式來分類的。主要有以下3種操作模式：接觸模式（contact mode) ，非接觸模式（ non - contact mode) 和敲擊模式( tapping mode）。

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