Bruker三維光學(xué)表面輪廓儀-ContourGT-K0/白光干涉儀/表面形貌/粗糙度/三維輪廓等測(cè)量系統(tǒng)

布魯克 (Bruker) 是表面測(cè)量和檢測(cè)技術(shù)的全球領(lǐng)導(dǎo)者，服務(wù)于科研和生產(chǎn)領(lǐng)域。新一代白光干涉儀ContourGT系列結(jié)合了先進(jìn)的64位多核操作和分析處理軟件，專(zhuān)利技術(shù)白光干涉儀（WLI）硬件和前所未有的操作簡(jiǎn)易性，是歷年來(lái)來(lái)*進(jìn)的3D光學(xué)表面輪廓儀系統(tǒng)。該系統(tǒng)擁有超大視野內(nèi)亞埃級(jí)至毫米級(jí)的垂直計(jì)量范圍，樣品安裝靈活，且具有業(yè)界*的測(cè)量重復(fù)性。ContourGT系列是當(dāng)今生產(chǎn)研究和質(zhì)量控制應(yīng)用中，最廣泛使用和最直觀的3D表面計(jì)量平臺(tái)。

應(yīng)用：

   對(duì)LED行業(yè)、太陽(yáng)能行業(yè)、觸摸屏行業(yè)、半導(dǎo)體行業(yè)以及數(shù)據(jù)存儲(chǔ)行業(yè)等，提供全方位非接觸式測(cè)量方案，樣品從小至微米級(jí)別的微機(jī)電器件（MEMS），大到整個(gè)引擎部件，都可以獲得表面形貌、粗糙度、三維輪廓等精準(zhǔn)數(shù)據(jù)

特征：

業(yè)界*的垂直分辨率，最強(qiáng)大的測(cè)量性能；

0.5~200倍的放大倍率；

任何倍率下亞埃級(jí)至毫米級(jí)垂直測(cè)量量程；

高分辨率攝像頭；

測(cè)量硬件的獨(dú)特設(shè)計(jì)，增強(qiáng)生產(chǎn)環(huán)境中的可靠性和重復(fù)性；

較高的震動(dòng)的容忍度和GR&R測(cè)量的能力

專(zhuān)利的自動(dòng)校準(zhǔn)能力；

多核處理器下運(yùn)行的Vision64軟件，大大提高三維表面測(cè)量和分析速度

數(shù)據(jù)處理速度提高幾十倍；

分析速度提高十倍；

無(wú)以倫比的大量數(shù)據(jù)無(wú)縫拼接能力；

 高度直觀的用戶(hù)界面，擁有業(yè)界最強(qiáng)的實(shí)用性，操作簡(jiǎn)便和分析功能強(qiáng)大

優(yōu)化的用戶(hù)界面大大簡(jiǎn)化測(cè)量和數(shù)據(jù)分析過(guò)程；

特的可視化操作工具；

可自行設(shè)置數(shù)據(jù)輸出的界面；

北京亞科晨旭科技有限公司

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