主要性能技術(shù)指標(biāo) 1、可測(cè)試品的電容量范圍6PF~250μF。2、檢測(cè)靈敏度允許電流（見(jiàn)表一）：表一、檢測(cè)靈敏度及輸入單元允許電流值。 輸入單元序號(hào)調(diào)諧電容范圍靈敏度（PC）（不平衡電路）允許電流有效值不平衡電路平衡電路10～25～100PF0.0230mA0.25A225～100～400PF0.0450mA0.5A3100～400～1500PF0.06120mA1A4400～1500～6000PF0.10.25A2A51500～6000～25000PF0.20.5A4A60.006～0.025～0.1μF0.31A8A70.025～0.1～0.4μF0.52A15A80.1～0.4～1.5μF14A30A90.4～1.5～6.0μF1.58A60A101.5～6.0～25μF2.515A120A116.0～25～60μF525A200A1225～60～250μF1050A300A7R電阻0.52A15A 3、測(cè)量通道：3路（標(biāo)準(zhǔn)）4、橢圓掃描時(shí)基：（1）頻率50（內(nèi)）、100、150、200、400HZ。（2）旋轉(zhuǎn)：以30°為一檔。（3）工作方法：橢圓－擴(kuò)展－直線。（4）高頻時(shí)基橢圓可按輸入電壓（10～250V）調(diào)節(jié)至正常大小，其攝取功率<1伏安，并有過(guò)載自動(dòng)保護(hù)裝置。5、顯示單元采用124×104mm2矩形示波管，有亮度與聚焦調(diào)節(jié)旋紐。6、放大器（1）3dB低頻端頻率fL：10、20、40KHZ任選。（2）3dB高頻端頻率fH：80、200、300KHZ任選。（3）增益調(diào)節(jié)，粗調(diào)6檔，檔間增益差20±1dB，細(xì)調(diào)范圍>20dB。（4）正負(fù)脈沖響應(yīng)不對(duì)稱(chēng)性<1dB。7、時(shí)間窗（1）窗寬：可調(diào)，50HZ下15°～ 150°。（2）窗位置：每一窗可旋轉(zhuǎn)0°～ 170°。（3）兩個(gè)時(shí)間窗可分別或同時(shí)開(kāi)。（4）具有一次性轟擊裝置，轟擊時(shí)間約20ms（供拍照用）。8、脈沖峰值表（1）線性刻度指針式表頭0—100  誤差±5%（以滿刻度計(jì)）。（2）對(duì)數(shù)刻度指針式表頭0—10—100  誤差±5%（以滿刻度計(jì)）。（3）數(shù)字表頭：以3位半LED數(shù)字表顯示                     0—100    誤差：±3%（以滿刻度計(jì)）。9、試驗(yàn)電壓表（1）量程100KV（用100KV電壓表電阻R）。（2）顯示：3位半數(shù)字電壓表。（3）誤差：±3%。10、零標(biāo)系統(tǒng)（1）內(nèi)部零標(biāo)發(fā)生器的零標(biāo)志可變換極性，并可旋轉(zhuǎn)0～180°以使本電壓電阻R產(chǎn)生的真零標(biāo)位置極性相符。（2）零標(biāo)志與所有橢圓掃描頻率相一致。11、結(jié)構(gòu)（1）體積530×550×220mm3（2）重量：約22KG。

在變壓器局部放電測(cè)試中，各種干擾同樣能通過(guò)測(cè)試回路反映到示波圖或指示儀表中來(lái)，干擾信號(hào)和局部放電信號(hào)混雜在一起，就給局部放電信號(hào)的觀察和

測(cè)量帶來(lái)了很大的困難.另外，局部放電產(chǎn)生的檢測(cè)信號(hào)很微弱，僅為微伏級(jí)，很容易被外界干擾信號(hào)所淹沒(méi)。因此，如何正確區(qū)分干擾信號(hào)以至消除干擾信號(hào)就成為能否順利進(jìn)行局部放電試驗(yàn)的關(guān)鍵。特別對(duì)于高電壓產(chǎn)品的局部放電測(cè)試，這一點(diǎn)尤其要給予足夠重視。

局部放電對(duì)絕緣材料的破壞作用是與局部放電消耗的能量直接相關(guān)的，因此對(duì)放電消耗功率的測(cè)量很早就引起人們的重視。在大多數(shù)絕緣結(jié)構(gòu)中，隨著電壓的升高，絕緣中氣隙（或氣泡）的數(shù)目將增加。此外局部放電的現(xiàn)象將導(dǎo)致介質(zhì)的損壞，從而使得tgδ大大增加。因此可以通過(guò)測(cè)量tgδ的值來(lái)測(cè)量局部放電能量從而判斷絕緣材料和結(jié)構(gòu)的性能情況。  介質(zhì)損耗分析法特別適用于測(cè)量低氣壓中存在的輝光或者亞輝光放電。由于輝光放電不產(chǎn)生放電脈沖信號(hào)，而亞輝光放電的脈沖上升時(shí)間太長(zhǎng)，普通的脈沖電流法檢測(cè)裝置中難以檢測(cè)出來(lái)。但這種放電消耗的能量很大，使得?tgδ很大，故只有采用電橋法檢測(cè)?tgδ才能判斷這種放電的狀態(tài)和帶來(lái)的危害。但是，DLA方法只能定性的測(cè)量局部放電是否發(fā)生，基本不能檢測(cè)局部放電量的大小，這限制了DLA方法的運(yùn)用。