北京電工電子產(chǎn)品高低溫測試

1、低溫試驗：

低溫測試標(biāo)準(zhǔn)：電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗A：低溫 GB/T 2423.1-2008，IEC 60068-2-1:2007。只做：溫度≥-70℃。

2、高溫試驗：

高溫測試標(biāo)準(zhǔn)：電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗B：高溫 GB/T 2423.2-2008 ，IEC 60068-2-2:2007。只做：溫度≤300℃。

3、恒定濕熱試驗：

濕熱試驗標(biāo)準(zhǔn)：電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Cy: 恒定濕熱主要用于元件的加速試驗 GB/T 2423.50-2012，IEC 60068-2-67:1995。只做：溫度（10～95）℃,濕度：（20～98）%RH

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Cab：恒定濕熱試驗 GB/T 2423.3-2006，IEC 60068-2-78：2001    只做：溫度（10～95）℃,濕度：（20～98）%RH。

4、交變濕熱試驗：

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分試驗方法試驗Db：交變濕熱（12h＋12h循環(huán)） GB/T2423.4-2008，IEC 60068-2-30:2005。只做：溫度（10～95）℃,濕度：（20～98）%RH。

5、振動試驗：

振動試驗標(biāo)準(zhǔn)：電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分: 試驗方法試驗Fi: 振動混合模式 GB/T 2423.58-2008，IEC 60068-2-80:2005。只做：頻率2Hz～3000Hz,位移≤51mm,  載荷≤3000kg

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Fh：寬帶隨機(jī)振動（數(shù)字控制）和導(dǎo)則 GB/T 2423.56-2006，IEC 60068-2-64:1993。只做：頻率2Hz～3000Hz,位移≤51mm,載荷≤3000kg。

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Fc和導(dǎo)則：振動（正弦）GB/T 2423.10-2008，IEC 60068-2-6:1995。只做：頻率2Hz～3000Hz,位移≤51mm,  載荷≤3000kg。

6、溫度變化試驗：

環(huán)境試驗第2部分: 試驗方法試驗N: 溫度變化 GB/T 2423.22-2012，IEC 60068-2-14:2009。

7、溫度/濕度組合循環(huán)試驗：

環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Z/AD：溫度/濕度組合循環(huán)試驗 GB/T 2423.34-2012，IEC 60068-2-38:2009。

8、跌落試驗：

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗Ed:自由跌落 GB/T 2423.8-1995，IEC 60068-2-32:1990。

9、機(jī)械沖擊試驗：

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗Ea和導(dǎo)則:沖擊  GB/T 2423.5-1995，IEC 60068-2-27:1987。

10、碰撞試驗：

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗Eb和導(dǎo)則:碰撞 GB/T 2423.6-1995 ，IEC 60068-2-29:1987

11、傾跌與翻倒：

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗Ec和導(dǎo)則:傾跌與翻倒 (主要用于設(shè)備型樣品) GB/T 2423.7-1995，IEC 60068-2-31:1982。

12、砂塵試驗：

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗L：沙塵試驗 GB/T 2423.37-2006，IEC 60068-2-68:1994 只做：方法La2:恒定氣壓。

13、鹽霧試驗：

環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗Kb:鹽霧，交變(氯化鈉溶液) GB/T 2423.18-2012，IEC 60068-2-52:1996；

人造氣氛腐蝕試驗鹽霧試驗 GB/T 10125-2012，ISO 9227:2006；

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分: 試驗方法試驗Ka：鹽霧 GB/T 2423.17-2008，IEC 60068-2-11:1981。

14、溫度沖擊試驗：

環(huán)境試驗第2部分: 試驗方法試驗N: 溫度變化 GB/T 2423.22-2012，IEC 60068-2-14:2009。

15、IP防護(hù)等級（外殼防護(hù)試驗）：

外殼防護(hù)等級（IP代碼）：GB 4208-2008，IEC 60529:2001；

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗R：水試驗方法和導(dǎo)則：GB/T 2423.38-2008，IEC 60068-2-18:2000。

16、低溫/振動(正弦)綜合試驗：

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Z/AFc：散熱和非散熱試驗樣品的低溫/振動(正弦)綜合試驗 GB/T 2423.35-2005，IEC 60068-2-50:1983。

17、高溫/振動(正弦)綜合試驗：

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Z/BFc：散熱和非散熱試驗樣品的高溫/振動(正弦)綜合試驗 GB/T 2423.36-2005，IEC 60068-2-51:1983。

18、溫度（低溫、高溫）/低氣壓/振動（隨機(jī)）綜合試驗：

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Z/ABMFh：溫度（低溫、高溫）/低氣壓/振動（隨機(jī)）綜合 GB/T 2423.59-2008。

19、溫度（低溫、高溫）/低氣壓/振動（正弦）綜合試驗：

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗：溫度（低溫、高溫）/低氣壓/振動（正弦）綜合   GB/T 2423.102-2008。

20、可靠性試驗：

設(shè)備可靠性試驗恒定失效率假設(shè)下的失效率與平均無故障時間的驗證試驗方案：GB/T 5080.7-1986，IEC 60605-7:1978；

設(shè)備可靠性試驗恒定失效率假設(shè)的有效性檢驗：GB/T 5080.6-1996，IEC 60605-6:1989；

設(shè)備可靠性試驗成功率的驗證試驗方案：GB/T 5080.5-1985，IEC 60605-5:1982；

設(shè)備可靠性試驗可靠性測定試驗的點估計和區(qū)間估計方法 (指數(shù)分布)：GB/T 5080.4-1985，IEC 60605-4:1978。

可靠性試驗第2部分：試驗周期設(shè)計 GB/T 5080.2-2012，IEC 60605-2:1994；

可靠性試驗第1部分：試驗條件和統(tǒng)計檢驗原理 GB/T 5080.1-2012，IEC 60300-3-5:2001。