GB /T 2423.1-2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)A：低溫

本標(biāo)準(zhǔn)所涉及的低溫試驗(yàn)適用與非散熱和散熱兩類試驗(yàn)樣品，該標(biāo)準(zhǔn)限于用來考核或確定電工、電子產(chǎn)品（包括元件、設(shè)備以及其他產(chǎn)品）在低溫條件下存儲(chǔ)和（或）使用的適應(yīng)性。

試驗(yàn)的嚴(yán)酷等級(jí)主要由試驗(yàn)溫度和持續(xù)時(shí)間來決定，該標(biāo)準(zhǔn)提出的溫度是：-65℃ 、-55℃、-40℃、-25℃、-10℃、+5℃、-5℃。持續(xù)的時(shí)候分別有：2h、16h、72h、96h