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GB /T 2423.1低溫試驗

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GB /T 2423.1低溫試驗

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  • 所在地:
    北京北京
  • 產(chǎn)品規(guī)格:
  • 包裝說明:
  • 商品名稱:GB /T 2423.1低溫試驗
  • 自定義分類:低溫試驗
  • 上架時間:2023/11/17 9:53
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產(chǎn)品關(guān)鍵詞: 2423.1,低溫試驗,低溫暴露,

GB /T 2423.1-2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗2部分試驗方法試驗A:低溫

本標準所涉及的低溫試驗適用與非散熱和散熱兩類試驗樣品,該標準限于用來考核或確定電工、電子產(chǎn)品(包括元件、設(shè)備以及其他產(chǎn)品)在低溫條件下存儲和(或)使用的適應(yīng)性。

試驗的嚴酷等級主要由試驗溫度和持續(xù)時間來決定,該標準提出的溫度是:-65℃ 、-55℃、-40℃、-25℃、-10℃、+5℃、-5℃。持續(xù)的時候分別有:2h、16h、72h、96h


產(chǎn)品關(guān)鍵詞: 2423.1,低溫試驗,低溫暴露,
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