1、本試驗(yàn)的目的是模擬電源電壓發(fā)生衰減性的100KHz,電壓由250V至4 KV震蕩波時的對電子產(chǎn)品的影響.可測試標(biāo)準(zhǔn):GB/T 17626.12-1998 、IEC61000-4-12:2006、EN61000-4-12:2006、EN61000-4-18:2007聯(lián)系我們
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