北京高低溫環(huán)境適應(yīng)性試驗(yàn)室是北京一家國營的研究所檢測機(jī)構(gòu)，試驗(yàn)室通過了CNAS、CMA認(rèn)可，可以提供電工電子設(shè)備的高低溫工作、高低溫貯存、恒定交變濕熱工作或貯存、溫度變化試驗(yàn)、振動耐久、振動功能試驗(yàn)、沖擊耐久、沖擊功能試驗(yàn)、自由跌落試驗(yàn)、MTBF平均無故障時(shí)間測定、可靠性測試、碰撞帶電試驗(yàn)、鹽霧腐蝕試驗(yàn)（中性或酸性）、溫濕度組合循環(huán)試驗(yàn)、溫度濕度振動三綜合試驗(yàn)以及委托方技術(shù)要求的試驗(yàn)條件。

北京高低溫環(huán)境適應(yīng)性試驗(yàn)室具備CNAS、CMA試驗(yàn)室認(rèn)可資格；實(shí)驗(yàn)室自有測試設(shè)備200多臺套，可以實(shí)施不同尺寸被測設(shè)備的高低溫環(huán)境適應(yīng)性試驗(yàn)，并出具檢測報(bào)告 。

北京高低溫環(huán)境適應(yīng)性試驗(yàn)室可以提供最低溫度零下70攝氏度，零上260攝氏度的溫度老化試驗(yàn)，試驗(yàn)設(shè)備側(cè)面有供產(chǎn)品性能測試的出線口，可以在高低溫濕熱運(yùn)行中進(jìn)行產(chǎn)品的性能測試。

實(shí)驗(yàn)室環(huán)境：

以下是北京高低溫環(huán)境適應(yīng)性試驗(yàn)室的測試項(xiàng)目及檢測標(biāo)準(zhǔn)：

1. 低溫試驗(yàn):電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫GB/T2423.1-2008，IEC60068-2-1:2007

2.高溫試驗(yàn):電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫GB/T2423.2-2008 ，IEC60068-2-2:2007

3.恒定濕熱試驗(yàn):

環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cy: 恒定濕熱主要用于元件的加速試驗(yàn) GB/T2423.50-2012，IEC60068-2-67:1995

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分： 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cab：恒定濕熱試驗(yàn) GB/T 2423.3-2006，IEC 60068-2-78：2001

4.交變濕熱試驗(yàn):電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Db：交變濕熱（12h＋12h循環(huán)） GB/T2423.4-2008，IEC 60068-2-30:2005

5.振動試驗(yàn)

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fi: 振動 混合模式 GB/T 2423.58-2008，IEC 60068-2-80:2005

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fh：寬帶隨機(jī)振動（數(shù)字控制）和導(dǎo)則 GB/T 2423.56-2006，IEC 60068-2-64:1993

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fc和導(dǎo)則：振動（正弦）    GB/T 2423.10-2008，IEC 60068-2-6:1995

6.溫度變化試驗(yàn)

環(huán)境試驗(yàn) 第2部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N: 溫度變化 GB/T 2423.22-2012，IEC 60068-2-14:2009

7.溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn)：環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z/AD：溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn) GB/T 2423.34-2012，IEC 60068-2-38:2009

8.自由跌落試驗(yàn)：電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ed:自由跌落 GB/T 2423.8-1995，IEC 60068-2-32:1990

9.機(jī)械沖擊試驗(yàn)：電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ea和導(dǎo)則:沖擊  GB/T 2423.5-1995，IEC 60068-2-27:1987

10.碰撞試驗(yàn)：電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Eb和導(dǎo)則:碰撞 GB/T 2423.6-1995 ，IEC 60068-2-29:1987

11.傾跌與翻倒試驗(yàn)：電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ec和導(dǎo)則:傾跌與翻倒 (主要用于設(shè)備型樣品) GB/T 2423.7-1995，IEC 60068-2-31:1982

12.砂塵試驗(yàn)：電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)L：沙塵試驗(yàn) GB/T 2423.37-2006，IEC 60068-2-68:1994

13.鹽霧試驗(yàn)：

人造氣氛腐蝕試驗(yàn) 鹽霧試驗(yàn) GB/T 10125-2012，ISO 9227:2006

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)  第2部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ka：鹽霧 GB/T 2423.17-2008，IEC60068-2-11:1981

14.溫度沖擊：環(huán)境試驗(yàn) 第2部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N: 溫度變化 GB/T 2423.22-2012，IEC 60068-2-14:2009

15.外殼防護(hù)

外殼防護(hù)等級（IP代碼） GB 4208-2008，IEC 60529:2001

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)R：水試驗(yàn)方法和導(dǎo)則 GB/T 2423.38-2008，IEC 60068-2-18:2000

16.低溫/振動(正弦)綜合試驗(yàn)：電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z/AFc：散熱和非散熱試驗(yàn)樣品的低溫/振動(正弦)綜合試驗(yàn) GB/T 2423.35-2005，IEC 60068-2-50:1983

17.高溫/振動(正弦)綜合試驗(yàn)：電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z/BFc：散熱和非散熱試驗(yàn)樣品的高溫/振動(正弦)綜合試驗(yàn)  GB/T 2423.36-2005，IEC 60068-2-51:1983

18.溫度（低溫、高溫）/低氣壓/振動（隨機(jī)）綜合：電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z/ABMFh：溫度（低溫、高溫）/低氣壓/振動（隨機(jī)）綜合 GB/T 2423.59-2008    

19.（低溫、高溫）/低氣壓/振動（正弦）綜合GB/T 2423.102-2008

20.可靠性試驗(yàn)：

設(shè)備可靠性試驗(yàn) 恒定失效率假設(shè)下的失效率與平均無故障時(shí)間的驗(yàn)證試驗(yàn)方案   GB/T 5080.7-1986，IEC 60605-7:1978

設(shè)備可靠性試驗(yàn) 恒定失效率假設(shè)的有效性檢驗(yàn) GB/T 5080.6-1996  ，IEC 60605-6:1989

設(shè)備可靠性試驗(yàn)成功率的驗(yàn)證試驗(yàn)方案   GB/T 5080.5-1985  ，IEC 60605-5:1982

設(shè)備可靠性試驗(yàn) 可靠性測定試驗(yàn)的點(diǎn)估計(jì)和區(qū)間估計(jì)方法 (指數(shù)分布)   GB/T 5080.4-1985，IEC 60605-4:1978

可靠性試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)周期設(shè)計(jì) GB/T 5080.2-2012，IEC 60605-2:1994

可靠性試驗(yàn) 第1部分：試驗(yàn)條件和統(tǒng)計(jì)檢驗(yàn)原理 GB/T 5080.1-2012，IEC 60300-3-5:2001