二手網(wǎng)絡分析儀HP-8711B 8712B
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HP-8711B/8712B/8713B/8714B|二手網(wǎng)絡分析儀..頻率范圍:300KHz-3000MHz(HP8711/12B為1300MHz)
..1Hz分辨率的合成信號源
..裝有3 1/2英寸磁盤驅(qū)動器(LIF/DOS) 內(nèi)置HP Instrument BASIC
..窄帶/寬帶檢測 100dB系統(tǒng)動態(tài)范圍
..“實時”掃描速度(50ms/一次掃描) 操作簡便快捷
..集成化傳輸/反射測試裝置
射頻經(jīng)濟型網(wǎng)絡分析儀
..HP經(jīng)濟型網(wǎng)絡分析儀(ENAs)具有速度快、精度高和測量適應能力強的特點,并且價格合格,對于大批量射頻元器件的制造是十分理想的。它能表征各種射頻元件的傳輸/反射頻響,即測量插損、延遲、功率或駐波比(SWR)。HP RF ENA是結構緊湊的集成網(wǎng)絡分析儀,能快速、簡便、精確地進行射頻測試。
集成化的合成源和傳輸/反射測試裝置使得只需連接一次就可掃頻表征射頻元件的特性。內(nèi)部合成源是一個快速(50ms/一次掃描)和穩(wěn)定(1Hz分辨率)的激勵源,用于窄帶器件的測試。HP RF ENRs的靈敏接收機具有窄帶和寬帶二種檢測工作方式,因此,適于測試射頻系統(tǒng)中的線性和非線性元件。寬帶檢測適合于表征頻率轉(zhuǎn)換器件,而窄帶檢測能提供高于100dB的動態(tài)范圍,用于測試高抑制參數(shù)的窄帶器件。已校準的外部標量檢波器用于測量遠程的被測件(DUT)和調(diào)幅(AM)延遲。功率掃描能對放大器的增益壓縮進行測試。
可選用的HP Instrument BASIC(IBASIC)將計算機的自動處理功能置入儀器中,簡化了測量設置和測試步驟。內(nèi)置的LIF/DOS格式的3 1/2英寸軟盤驅(qū)動裝置,使儀器狀態(tài),測量數(shù)據(jù)和校準數(shù)據(jù),IBASIC程序的存儲不受限制。
..集成了信號源、接收機、測試裝置、顯示器和磁盤驅(qū)動器于一體的網(wǎng)絡分析儀,對于制造、進貨檢驗和維護均十分理想。設計時考慮了制造上的需要簡單、易于使用和自動化功能節(jié)省了器件測試時間。HP ENA節(jié)省時間的特性是考慮到大批制造的需要而設計的。
..RF ENA能同時在CRT上顯示多個參數(shù),如插入損耗與回波損耗特性。逾100個內(nèi)部儲存/調(diào)用寄存器可以加快器件的測試速度。儀器狀態(tài)在機內(nèi)就能存取,節(jié)省了時間,減少了操作失誤。
..功能強大的光標功能以實時計算方式回快了元件的測試速度,并顯示被測器件的特性(最大、最小、3dB帶寬和光標搜索),并給出測量數(shù)據(jù)。
..極限測試將測量數(shù)據(jù)與用戶定義的參數(shù)范圍進行比較,并在儀器的顯示器上顯示結果。此特征保證了器件在所有生產(chǎn)狀態(tài)下進行高度都可達到相同的技術指標。
..HP Instrument BASIC他內(nèi)置磁盤驅(qū)動器簡化了自己測量并降低了系統(tǒng)成本。IBASIC獨特按鍵式記錄功能使手動測量自動化,而無需任何編程。利用與IBM兼容的PC和分析儀的DOS磁盤格式來控制你的測量系統(tǒng),并將數(shù)據(jù)直接送至通用MS-DOS程序中。采用串行、并行和HP-IB接口支持外部設備(打印機和繪圖儀)。
HP 8711B和HP 8713B
..這兩種型號儀器提供了經(jīng)濟的幅度測量,它在降低生產(chǎn)成本和提高競爭力方面是具有優(yōu)良性價比的低成本射頻元件測試系統(tǒng)。HP 8711B的頻率范圍為300kHz-1300MHz,而HP 8713B的頻率范圍為300kHz-3000MHz。
可選用的AM延遲能測量頻率變換器件的延遲。兩個獨立的顯示通道以多種有用的格式對兩種參數(shù)(如傳輸和反射)進行測量和顯示。
AM延遲
..延遲是器件的相位響應頻率變化呈非線形性的重要頻率。幅度調(diào)制延遲可以測量不進行相位微分的頻率變換器件中的延遲。該分析儀利用兩個已校準的外部標量檢波器(HP 86200B或86201B)來測量延遲。
這種方法簡單而可靠,但不能用來測量具有內(nèi)部自動增益控制(AGC)的器件或工作在飽和狀態(tài)下的器件。
HP 8712B和HP 8714B
..RF ENA系列中的這兩種型號儀器可提供更高性能的RF矢量測量,包括相位、阻抗和線形群延遲。當與選件AM延遲組合使用時,它們可滿足您RF測量中更多的應用需求。HP 8712B的頻率范圍為300kHz-1300MHz,而HP 8714B的頻率范圍為300kHz-3000MHz。
兩個獨立的顯示通道可以不同的格式同時測量和顯示兩種測量,如反射和延遲,包括阻抗和SWR,在垂直、極性和史密斯圓圖中。
全面、快速、經(jīng)濟的電纜測試
..對于制造廠家、安裝人員和維修人員來說,如果電纜的技術指標達不到要求便會造成巨大損失。選件100能對制造廠家給出的數(shù)據(jù)進行檢驗并能對在裝運期間受到無法察覺的損傷的電纜進行全面的測試。
徹底的電纜測試要求測量損耗、阻抗、結構回路損耗(SRL)和故障位置。目前,所有這些功能都能由選件100提供。利用可變阻抗電橋進行的某些測試如SRL還要求操作者具有高超的能力。為了加快測量速度并降低對操作者進行培訓的要求,選件100使SRL測量實現(xiàn)了自動化。
結構回路損耗(SRL)是入射信號與反射信號之比,它給出相對于電纜阻抗的反射系數(shù)。周期性干擾可能引起電纜出現(xiàn)SRL。這些通常由整個制造過程或卷繞操作的偶然事件產(chǎn)生的干擾本身帶來的問題并不大。然而,相互反射則可能以相干方式相加,在波長對應于干擾間隔兩倍的某個頻率上會引起明顯的反射。
故障定位選件101還包括一些引起由任何其他方法所不具有的方便點。精確測量要求操作者了解速度因子和每100英尺的電纜損耗。通常,制造廠家的技術指標不是立即可以利用或不精確。選件100能利用已知的一段短電纜來確定上述參數(shù)。
..此外,如果存在來自電纜故障或接頭處的多重反射,則反射的總能量可能影響后續(xù)故障處的測量精度。多突出部分修正能自動補償在測量后續(xù)故障時從每個故障處反射的能量。將大卷電纜連接到儀器上通常需要很長一段N型75Ω電纜。HP公司提供可用于此目的的長度為10英尺、15英尺和30英尺的低損耗、相位穩(wěn)定的電纜。
轉(zhuǎn)換測試裝置
..轉(zhuǎn)換測試裝置能在正、反兩個方向上進行快速而方便的測量。專門為大批量射頻元件制造而設計的轉(zhuǎn)換測試裝置能自動地在網(wǎng)絡分析儀與被測件之間轉(zhuǎn)換傳輸和反射測試端口的連接。著就允許用一次連接完成正向和反向參數(shù)的測量。在不要求有最高精度的制造環(huán)境下,轉(zhuǎn)換測試裝置是對具有全面二端口誤差修正的完全S參數(shù)測試裝置的一種經(jīng)濟的替代設備。專門選件K02是二端口轉(zhuǎn)換測試設備。此外,在有需求時可以提供多端口配置。
校準配件
..通過在所要求的頻率范圍內(nèi)對已知器件(標準件)進行測量,可以提高測量精度。RF ENA的校準配件包含表征這些誤差的一些標準件。
HP 85032E 50ΩN型經(jīng)濟型校準件
HP85032E包含用來校準網(wǎng)絡分析儀的50ΩN型校準件,用于對具有50ΩN型連接器的器件進行測量。校準件包括固定終端負載,開路器和短路器。
HP 85033D 3.5mm校準件
HP85033D包含用來校準網(wǎng)絡分析儀的50Ω3.5mm型校準件,用于對具有50Ω3.5mm型連接器的器件進行測量。校準件包括固定終端負載,開路器和短路器。
HP 85036E 75Ω N型經(jīng)濟型校準件
HP85036E包含用來校準網(wǎng)絡分析儀的75ΩN型校準件,用于測量具有75ΩN型連接器的器件。校準件包括固定終端負載,開路器和短路器。
HP 85039A 75Ω F型校準件
HP 85039A包含用來校準網(wǎng)絡分析儀的75ΩF型校準件,用于測量具有75ΩF型連接器的器件。校準件包括固定終端負載,開路器和短路器。
長期專業(yè)銷售、租賃、維修、計量.回收高頻二手儀器!!歡迎來電咨詢
公司主營產(chǎn)品;手機綜合測試儀、藍牙測試儀、網(wǎng)絡分析儀、頻譜分析儀、信號源信號發(fā)生器、示波器、功率計、頻率計、LCR電橋、電源、數(shù)據(jù)采集儀、噪聲系數(shù)分析儀、多用表校準儀、萬用表、天饋線測試儀安立、溫度記錄儀、邏輯分析儀、色彩分析儀、光波測量系統(tǒng)、阻抗測試治具及附件、衰減器等