凱斯安（KSI）依靠國內(nèi)外先進的超聲掃描檢測技術(shù)，研發(fā)生產(chǎn)了多種掃描顯微鏡產(chǎn)品。

公司主營業(yè)務(wù)聲學(xué)掃描顯微鏡、超聲波掃描顯微鏡、C-SAM，為廣大客戶創(chuàng)造了良好的用戶體驗。目前，科視達設(shè)有研發(fā)、生產(chǎn)、銷售、服務(wù)等完整體系，擁有一支高素質(zhì)的研發(fā)團隊，我司研制的超聲掃描顯微鏡操作簡單，性能齊全，具有極高的性價比，為眾多客戶青睞!

名稱：超聲波掃描顯微鏡

型號：V-400E

產(chǎn)地：德國

應(yīng)用：晶圓面處分層缺陷；錫球、晶圓、或填膠中的開裂；晶圓的傾斜；各種可能之孔洞（晶圓接合面、錫球、填膠…等）

超聲波掃描顯微鏡應(yīng)用領(lǐng)域：

• 半導(dǎo)體電子行業(yè)：半導(dǎo)體晶圓片、封裝器件、大功率器件IGBT、紅外器件、光電傳感器件、SMT貼片器件、MEMS等;

• 材料行業(yè)：復(fù)合材料、鍍膜、電鍍、注塑、合金、超導(dǎo)材料、陶瓷、金屬焊接、摩擦界面等；

• 生物醫(yī)學(xué)：活體細胞動態(tài)研究、骨骼、血管的研究等

超聲波掃描顯微鏡在失效分析中的應(yīng)用：

• 晶圓面處分層缺陷

• 錫球、晶圓、或填膠中的開裂

• 晶圓的傾斜

• 各種可能之孔洞（晶圓接合面、錫球、填膠…等）

超聲波顯微鏡的在失效分析中的優(yōu)勢：

• 非破壞性、無損檢測材料或IC芯片內(nèi)部結(jié)構(gòu)

• 可分層掃描、多層掃描

• 實施、直觀的圖像及分析

• 缺陷的測量及缺陷面積和數(shù)量統(tǒng)計

• 可顯示材料內(nèi)部的三維圖像

• 對人體是沒有傷害的

• 可檢測各種缺陷（裂紋、分層、夾雜物、附著物、空洞、孔洞等）

• -該型號超聲波掃描顯微鏡系統(tǒng)是實驗室、研發(fā)和工業(yè)生產(chǎn)線主流機型。

• - 掃描速度最高可達：2000mm/s

• - 與其它品牌機型相比掃描效率高30%

• - 最大掃描范圍：400mm×400mm

• - 最小掃描范圍：200μm×200μm

• - 射頻最大帶寬：500MHz

• - 新型FCT防誤判專利探頭