德國(guó)ISI-SYS公司推出的SE2剪切干涉無(wú)損檢測(cè)系統(tǒng)是一種采用非接觸式測(cè)量的無(wú)損檢測(cè)系統(tǒng)，主要用于檢測(cè)復(fù)合材料內(nèi)部結(jié)構(gòu)缺陷的非均勻性，如分層、脫粘、夾雜等。顯示出的非均勻性可用鼠標(biāo)進(jìn)行標(biāo)記，從而確定所顯現(xiàn)缺陷的橫向大小和在測(cè)量視場(chǎng)中的位置,是一種定量檢測(cè)的高新技術(shù)，同時(shí)可滿足高精度和快速檢測(cè)的需求，即可在實(shí)驗(yàn)室對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行抽檢，也可以對(duì)生產(chǎn)過(guò)程中及或成品進(jìn)行檢測(cè)。

該測(cè)量技術(shù)用激光照射材料表面，將反射回的波面橫向平移一定位移后同未平移的波面進(jìn)行自我干涉，形成干涉條紋。可以通過(guò)熱載荷,真空載荷及振動(dòng)載荷等方式使得材料表面發(fā)生微小變形，當(dāng)被測(cè)材料由于開裂，剝離，內(nèi)部包含異物，凹陷，受擠壓，或是多層材料出現(xiàn)脫層等現(xiàn)象，干涉模式會(huì)出現(xiàn)局部不連續(xù)，即材料表面變形局部不均勻，從而鎖定缺陷位置和大小。

原廠介紹：

德國(guó)ISI-SYS 公司是最早研究Shearography技術(shù)的公司之一，公司由德國(guó)卡塞爾大學(xué)機(jī)械設(shè)計(jì)學(xué)院具有高度創(chuàng)新能力的機(jī)械，電氣，軟件工程師成立，團(tuán)隊(duì)具有30年的航空航天工程方面設(shè)備研發(fā)和制造經(jīng)驗(yàn)，專業(yè)分析客戶的測(cè)量需求，并提供滿意的解決方案擁有幾十年的無(wú)損檢測(cè)儀器制造經(jīng)驗(yàn)，其研制的激光散斑檢測(cè)儀SE系列符合相關(guān)ISO國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)。設(shè)備系統(tǒng)涉及的計(jì)量單位全部采用國(guó)際單位(SI)標(biāo)準(zhǔn)。并符合現(xiàn)行有效的ASTM E2581和BSS 7057的鑒定要求。

技術(shù)原理：

基于激光照射粗糙表面時(shí)發(fā)生激光散斑效應(yīng);光的干涉原理;相位移技術(shù)與緣紋打開技術(shù)對(duì)采集到信息進(jìn)行自動(dòng)分析。

產(chǎn)品功能：

ISI剪切干涉無(wú)損檢測(cè)系統(tǒng)是一種采用非接觸式測(cè)量的無(wú)損檢測(cè)系統(tǒng)，主要用于檢測(cè)復(fù)合材料內(nèi)部結(jié)構(gòu)缺陷的非均勻性，如分層、脫粘、夾雜等。顯示出的非均勻性可用鼠標(biāo)進(jìn)行標(biāo)記，從而確定所顯現(xiàn)缺陷的橫向大小和在測(cè)量視場(chǎng)中的位置,是一種定量檢測(cè)的高新技術(shù)，同時(shí)可滿足高精度和快速檢測(cè)的需求，即可在實(shí)驗(yàn)室對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行抽檢，也可以對(duì)生產(chǎn)過(guò)程中及或成品進(jìn)行檢測(cè)。